Tessent扫描与ATPG用户手册提供详尽指南，涵盖Mentor Graphics Tessent系列工具的使用方法及自动测试模式生成技术，适用于芯片设计工程师。
Tessent Scan and ATPG用户手册是由Mentor Graphics Corporation编写的关于测试及自动测试模式生成（ATPG）的指南。该手册介绍如何使用Tessent Scan和ATPG，包括其原理、应用场景以及具体操作步骤。
设计可测试性(DFT)是指在数字电路或系统的设计阶段考虑方便且有效的测试方法以提高产品的可靠性和质量。基于DFT理念，Tessent Scan和ATPG技术被开发出来用于提升对数字电路及系统的检测效率与可靠性。
Tessent Scan是一种利用扫描链进行的测试手段，在设计过程中插入特定结构以便于后续检查硬件功能是否正常工作；它具备自动产生测试模式、生成检验向量以及故障定位等功能。而ATPG则是指通过软件算法自动生成用于验证数字电路或系统的测试序列，从而能够快速准确地识别潜在问题。
用户手册详细介绍了Tessent Scan和ATPG的各项特性和使用方法，并提供参数配置指导及故障诊断分析技巧等实用信息。此外，它还列举了一些实际案例来说明这些工具在不同环境下的应用价值，帮助读者更好地理解和运用相关技术进行电路测试与故障排查工作。
综上所述，《Tessent Scan and ATPG用户手册》是一份全面且便于操作的参考资料，旨在指导工程师们有效利用该软件完成高效可靠的数字硬件验证任务。
5星
