
AN2668_利用过采样提升STM32 ADC精度 - 应用笔记.pdf_英中.pdf
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简介:
本应用笔记介绍了如何通过过采样技术提高STM32微控制器ADC模块的测量精度,适用于需要高精度数据采集的应用场景。
STM32官方应用笔记的翻译版本介绍了STMicroelectronics公司的STM32F1系列、STM32F3系列以及STM32Lx系列微控制器内置的一个增强型12位模数转换器,能够达到每秒兆级采样率。对于大多数应用场景而言,这种分辨率已经足够使用;但在需要更高精度的情况下,则可以通过采用过采样和抽取输入信号的方法来节省外部模数转换器的使用,并且降低应用功耗。
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