Testing of Digital Systems and Testable Design

简介：
《Testing of Digital Systems and Testable Design》一书专注于数字系统的测试技术和可测试设计方法，涵盖故障检测、诊断及验证策略。 《Digital Systems Testing and Testable Design》一书是美国高校广泛采用的优秀教材，全面介绍了结构测试理论与方法、可测性设计理论及度量标准、测试数据处理与简化策略以及智能芯片（如处理器、数字信号处理器和自动机等）的测试技术。全书共15章，并分为三个部分：前八章节主要涵盖数字系统概述、微系统芯片缺陷来源分析、逻辑描述方法及其故障建模，还包括了对单点及桥接故障的检测技巧以及智能系统的功能测试范围；第九至第十四章则深入探讨现代可测性设计理论与实践，包括内置自测试（BIST）技术及相关数据压缩算法等先进理念；最后一部分即第十五章节，则集中讨论系统级的综合测试方案。 整本书内容条理清晰、概念明确，并且在定义和证明方面严谨准确。此外，书中每一章后均附有大量练习题以帮助读者巩固所学知识并加深理解。