如何测试光电三极管?

简介：
本教程详细介绍如何通过简单的实验步骤来测试光电三极管的各项参数和性能，帮助电子爱好者掌握其工作原理及应用。 光电三极管是一种晶体管，具有三个电极。当光照强度发生变化时，这些电极之间的电阻也会随之改变。这种器件是在光电二极管的基础上发展而来的，并且自身具备放大功能。常见的光电三极管外观如图所示，其文字符号通常为VT或V。 目前使用的光电三极管主要采用硅材料制造而成，这是因为与锗元件相比，硅元件的暗电流较小并且温度系数较低。硅光电三极管是通过在N型硅单晶上形成一个N-P-N结构来制作的。其中基区面积较大而发射区面积较小，使得大部分入射光线被基区吸收。 和光电二极管一样，在光照射下，基区内会产生电子与空穴对。由于存在漂移场的作用，这些产生的电子会被拉向集电区方向，同时空穴则会在靠近发射区的一侧积累起来。这种累积效应导致了发射区势垒的降低，并且类似地在该区域两端施加了一个正向电压的效果，从而产生了倍率为β+1（与共射极三极管电路中的电流增益相同）的电子注入现象。 光电三极管测试方法包括： - 电阻测量法：使用指针式万用表并选择1kΩ档位。当黑笔连接到c端、红笔连接到e端时，无光照条件下仪表指示接近无穷大（∞），随着光线增强其阻值会逐渐减小至几千欧姆甚至更少；反之若将黑笔改接在e端而红表笔保持与c极相连，则无论有光还是没有光照射下指针均应指向无穷大或微动，这说明该器件正常工作。