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简易DFT教程对比.pdf

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简介:
本PDF文档提供了关于密度泛函理论(DFT)的基础教学内容,并通过实例比较了不同软件包在DFT计算中的应用效果。适合初学者入门参考。 关于DFT(设计可测性)的入门教程非常值得推荐,它深入浅出地讲解了这一重要的集成电路设计环节,帮助初学者理解如何通过提升芯片测试效率来确保产品出厂前的质量。 **基础概念:** DFT的核心在于提高电路单元在测试模式下的控制性和可观测性。这包括独立激活和关闭每个单元的能力以及准确获取这些单元状态的手段,这对于故障检测至关重要。 **故障模型详解:** 1. **物理故障**: 涉及金属层开路、短路等硬件问题。 2. **逻辑故障**: 包括芯片内部特定电路单元持续处于异常状态的情况。 3. **等价故障**: 多个不同类型的错误可能导致相同的系统行为,需要通过归并技术减少测试向量的数量。 **故障压缩:** 为了降低测试时间和资源消耗,采用故障压缩技术将大量可能的故障简化为少数代表性的案例进行检测。 **不可测故障:** 由于设计限制或测试结构局限性导致的一些特定类型的错误可能无法被识别和隔离,这类情况被称为不可测故障。 **ATPG(自动测试模式生成):** 这项技术使用各种算法自动生成能够触发指定故障的测试序列。常用的方法包括D-算法、PODEM以及FAN等,它们能有效提高芯片的整体测试覆盖率。 在实践中,工程师通常会结合多种方法如扫描链设计和边界扫描来实现全面有效的集成电路测试,并利用专门工具(例如DFTCompile与TetraMAX)进行自动化处理,以确保产品的可靠性和质量。

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    本PDF文档提供了关于密度泛函理论(DFT)的基础教学内容,并通过实例比较了不同软件包在DFT计算中的应用效果。适合初学者入门参考。 关于DFT(设计可测性)的入门教程非常值得推荐,它深入浅出地讲解了这一重要的集成电路设计环节,帮助初学者理解如何通过提升芯片测试效率来确保产品出厂前的质量。 **基础概念:** DFT的核心在于提高电路单元在测试模式下的控制性和可观测性。这包括独立激活和关闭每个单元的能力以及准确获取这些单元状态的手段,这对于故障检测至关重要。 **故障模型详解:** 1. **物理故障**: 涉及金属层开路、短路等硬件问题。 2. **逻辑故障**: 包括芯片内部特定电路单元持续处于异常状态的情况。 3. **等价故障**: 多个不同类型的错误可能导致相同的系统行为,需要通过归并技术减少测试向量的数量。 **故障压缩:** 为了降低测试时间和资源消耗,采用故障压缩技术将大量可能的故障简化为少数代表性的案例进行检测。 **不可测故障:** 由于设计限制或测试结构局限性导致的一些特定类型的错误可能无法被识别和隔离,这类情况被称为不可测故障。 **ATPG(自动测试模式生成):** 这项技术使用各种算法自动生成能够触发指定故障的测试序列。常用的方法包括D-算法、PODEM以及FAN等,它们能有效提高芯片的整体测试覆盖率。 在实践中,工程师通常会结合多种方法如扫描链设计和边界扫描来实现全面有效的集成电路测试,并利用专门工具(例如DFTCompile与TetraMAX)进行自动化处理,以确保产品的可靠性和质量。
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    《PID简易教程》是一份针对初学者设计的实用指南,旨在通过简洁明了的语言和实例解析比例-积分-微分(PID)控制原理及其应用。适合自动化控制领域的学习者参考使用。 PID控制是一种常用的自动控制系统技术,广泛应用于工业自动化、机器人技术和过程控制等领域。它通过检测系统输出与期望值之间的误差,并利用比例(P)、积分(I)和微分(D)三种方式对这个误差进行修正,从而实现系统的精确调节。 - 比例(P)部分根据当前的误差大小来调整输入信号; - 积分(I)部分考虑了过去所有时刻累积起来的误差总和,有助于消除静态偏差; - 微分(D)部分则关注于预测未来趋势并提前做出反应,以减少超调量。 PID控制器通过合理设定这三个参数的比例、积分时间和微分时间来优化控制效果。尽管其原理相对简单直观,在实际应用中却需要根据具体场景进行细致调整与实验验证才能达到理想的效果。