
简易DFT教程对比.pdf
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简介:
本PDF文档提供了关于密度泛函理论(DFT)的基础教学内容,并通过实例比较了不同软件包在DFT计算中的应用效果。适合初学者入门参考。
关于DFT(设计可测性)的入门教程非常值得推荐,它深入浅出地讲解了这一重要的集成电路设计环节,帮助初学者理解如何通过提升芯片测试效率来确保产品出厂前的质量。
**基础概念:**
DFT的核心在于提高电路单元在测试模式下的控制性和可观测性。这包括独立激活和关闭每个单元的能力以及准确获取这些单元状态的手段,这对于故障检测至关重要。
**故障模型详解:**
1. **物理故障**: 涉及金属层开路、短路等硬件问题。
2. **逻辑故障**: 包括芯片内部特定电路单元持续处于异常状态的情况。
3. **等价故障**: 多个不同类型的错误可能导致相同的系统行为,需要通过归并技术减少测试向量的数量。
**故障压缩:**
为了降低测试时间和资源消耗,采用故障压缩技术将大量可能的故障简化为少数代表性的案例进行检测。
**不可测故障:**
由于设计限制或测试结构局限性导致的一些特定类型的错误可能无法被识别和隔离,这类情况被称为不可测故障。
**ATPG(自动测试模式生成):**
这项技术使用各种算法自动生成能够触发指定故障的测试序列。常用的方法包括D-算法、PODEM以及FAN等,它们能有效提高芯片的整体测试覆盖率。
在实践中,工程师通常会结合多种方法如扫描链设计和边界扫描来实现全面有效的集成电路测试,并利用专门工具(例如DFTCompile与TetraMAX)进行自动化处理,以确保产品的可靠性和质量。
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