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HALCON_标定与精准测量

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简介：
本课程聚焦于利用HALCON软件进行精确标定和高精度测量技术，涵盖图像处理原理、相机校准及工业检测应用案例解析。适合从事机器视觉领域研发和技术支持人员学习。 机器视觉 HALCON11 大恒图像内部培训资料。

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  • HALCON_标定与精准测量
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    本课程聚焦于利用HALCON软件进行精确标定和高精度测量技术，涵盖图像处理原理、相机校准及工业检测应用案例解析。适合从事机器视觉领域研发和技术支持人员学习。 机器视觉 HALCON11 大恒图像内部培训资料。
  • 光电鼠标传感器的精准测量与控制系統
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    本系统专注于光电鼠标传感器的研究，涵盖其精确测量和智能控制系统开发。通过优化算法实现高精度定位，提升用户体验及设备性能。 对于普通的带传动装置进行较高精度的速度控制，传统的检测及控制器件可能无法达到理想的效果。光电鼠标芯片因其高精度、低环境要求以及低成本等特点，在位置检测场合中表现出色，非常适用。
  • 测量不确定度课件：标准不确定度与扩展不确定度
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    本课件详细解析了标准不确定度与扩展不确定度的概念、计算方法及应用，旨在帮助学习者掌握测量结果评估中的不确定性分析。 标准不确定度与扩展不确定度都是用来确定测量结果区间的量，并合理赋予被测值在指定概率内的分布范围。 虽然已有标准不确定度（用σ表示），但通常情况下，它所对应的置信水平还不够高，在正态分布的情况下仅为68.27%。因此，引入了另一种方式来表达测量的不确定性——扩展不确定度。这种不确定性通过标准偏差的倍数kσ来计算，并统一使用大写拉丁字母U表示。 在实际应用中，为了得到具有更高置信水平区间的半宽度值，我们采用包含因子k与合成标准不确定度uc(y)相乘的方法：即扩展不确定度Up=kpuc(y)，其中kp代表对应于特定置信水准的倍数。这样能够更准确地描述测量结果可能存在的误差范围。
  • HALCON_多种定位技术
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    本章节深入探讨了HALCON软件中的多种图像处理技术，特别聚焦于对象定位方法，涵盖基本到高级的各种应用场景。 HALCON的机器视觉应用案例精选非常适合初学者入门，内容简单易懂且讲解详细。
  • HALCON_多种定位技术
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    本文将详细介绍并比较HALCON软件中提供的多种图像定位技术，涵盖它们的工作原理、应用场景及优缺点。 大恒官网提供的Halcon资料非常有参考价值，适合新手学习了解。可以尝试将积分改为0看看效果。
  • ECU CCP协议上位机测试与标定源码，基于C#的ASAM MCD-1MC标准CCP标定与测量程序
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    该软件为基于C#编写的ECU标定工具，遵循ASAM MCD-1MC规范，支持CCP协议进行上位机测试和参数标定。 ECU ccp协议上位机测试与标定源码采用C#编写，支持ASAM MCD-1MC标准的ccp标定与测量功能，具备短上传及数据采集（DAQ）能力，并能进行一维、二维等复杂的数据测量和标定。软件界面丰富多样，包括仪表盘、进度条以及二维地图等功能。 此外，程序还兼容ASAM MCD-2MC规范下的a2l文件读取操作，在解析过程中会自动执行文件结构检查以确保数据的准确性与完整性，并能将ECU测量结果导出为Excel格式的数据表格。支持广泛的CAN设备接入，包括但不限于ETAs、Vector、Peak、8Devices和Kvaser等USB CAN兼容装置。 开发环境基于.Net Framework 4.0架构，需引入Microsoft Office Excel组件，默认适用于Office2019版本，但用户可根据实际需求调整源代码以适配其他Excel版本。
  • VGA信号测量的协议与标准
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    本文探讨了VGA信号测量相关的协议和标准，涵盖了接口规范、测试方法及质量评估准则等内容。 VGA信号量测协议及标准涵盖了用于测量VGA信号的各项规定和技术细节。这些协议确保了不同设备之间的兼容性和一致性，为开发人员提供了明确的指导原则来测试和验证VGA输出的质量与稳定性。
  • STM32F407VGT6定时器输入捕获精准测量高电平时间
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    本项目介绍如何使用STM32F407VGT6微控制器的定时器实现输入捕获功能，以精确测量外部信号的高电平持续时间。 STM32F407VGT6定时器输入捕获功能可以准确地捕捉高电平时间。
  • 水下精准姿态测量代码
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    水下精准姿态测量代码旨在提供一套高效算法与程序解决方案，用于实现水下设备的姿态（包括方向和位置）精确测量。该系统结合先进的传感器技术和数据处理方法，确保在复杂多变的水下环境中也能获得可靠、实时的数据反馈，广泛应用于海洋科学考察、水下机器人导航及军事领域等场景中。 我的毕业设计使用了VB软件与MATLAB软件进行编程，如果有需要的话可以提供下载。
  • 显示器检测标准与缺陷判定
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    《显示器检测标准与缺陷判定》是一本详细介绍液晶和OLED显示器质量评估的专业书籍，涵盖了多种国际检测标准及常见缺陷分析。 MURA检测和定义的标准由VESA发布。LCD显示器缺陷的定义和分类标准也已制定。