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PCI Express 2.0 Base 信号的二进制完整性测试步骤。

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简介:
图 1展示了一个循环码的仿真系统。该系统包含一个伯努利二进制信号发生器,它产生采样时间为0.01的二进制信号,作为传输环境的输入。在发射端和接收端分别配置了循环码编码器和解码器,用于处理这些信号。为了评估(7,4)循环码差错控制的性能,同时进行对比分析,设计了一个不采用循环码校验的系统仿真框图,如图 2所示。尽管循环码由于信道编码的影响导致传输效率降低至4/7(即发送的7个码元中仅有4个有效码元),从而将差错率从5%成功降低至2%,但其带来的优势是显著的。关于解算器Solver的参数设置,设定了起始时间为0,终止时间为10000。为了实现更精确的模拟结果,采用了可变步长的ode45方法。(在Simulation参数设置中进行配置)。图 1呈现了(7,4)循环码进行差错控制仿真的系统结构;图 2则展示了不使用循环码校验时的差错控制仿真系统。

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  • PCI Express 2.0 Base
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    本文介绍了PCI Express 2.0 Base信号完整性的详细测试步骤,重点阐述了基于二进制方法的具体实施过程和关键注意事项。 图1展示了循环码的仿真系统。信号源是伯努利二进制信号发生器,产生采样时间为0.01秒的二进制信号,传输环境为二进制平衡信道。在发送端和接收端分别设置了循环码编码器与解码器。为了对比(7,4)循环码差错控制效率,设计了未经过循环校验系统的仿真框图,如图2所示。 尽管使用循环码后因信道编码导致传输效率降低至4/7——即每发送的七个码元中只有四个携带有效信息——但错误率却从5%降至2%,体现了其在差错控制中的优势。关于解法器Solver参数设置:开始时间为0,结束时间为10000;采用可变步长ode45方法(通过Simulation选项下的Simulation Parameters进行设置)。 图 1 (7,4) 循环码的错误控制系统仿真 图 2 不含循环校验系统的差错控制仿真
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  • LPDDR4 指南
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    本指南深入探讨了LPDDR4信号完整性测试的方法与技巧,旨在帮助工程师们解决高速内存接口设计中的挑战,确保系统稳定运行。 《LPDDR4 信号完整性测试指导》 本段落档深入解析了LPDDR4的信号完整性的关键测试方法,以确保数据传输准确性和系统稳定运行。主要涉及CK时钟信号、DQS数据选通信号及相关的时序测试。 首先关注CK时钟信号测试。作为LPDDR4系统的核心组件,CK的准确性与稳定性直接影响到系统的读写性能。具体来说: 1.1 CK差分信号测试包括对输入电压和斜率的标准检查,确保其符合规范要求。 1.2 差分输入信号的高低电平判决门限是保证信号清晰可辨的重要参数。 1.3 单端CK信号需要参照特定寄存器值进行判断,并关注单端信号交叉点以评估质量。 接下来,DQS测试同样重要。作为数据同步的关键组件: 2.1 DQS差分输入电压和斜率的测试与CK类似,但需根据其特性调整。 2.2 单端DQS信号同样需要进行电压判定及交叉点确认,并关注时序参数以确保精确的数据传输。 此外,时序测试是LPDDR4信号完整性测试的基础: 3.1 通过测量tCK(avg)、tCH(avg)和tCL(avg),评估每个Channel的LDQS和UDQS的平均周期长度及其脉冲宽度。 3.2 tDQSCK定义了数据选通信号与主时钟之间的访问时间;而tDQSQ衡量群组内偏移,tQHDQ表示保持时间,同时tQSL和tQSH则确定高低电平输出时间。此外,关注读操作的前导(tRPRE)和后缀(tRPST)时序确保了数据在正确的时间窗口被准确读取。 综上所述,LPDDR4信号完整性测试涵盖了从核心时钟到数据同步的全面检测,以保障系统在高速运行下的性能稳定性和可靠性。通过精确测试与参数调整优化其表现,进而提升整个系统的效率和稳定性。
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