IC测试的基本原理及ATE测试向量的生成

简介：
本文探讨了集成电路（IC）测试的基本理论，并详细介绍了自动测试设备(ATE)测试向量的生成过程及其重要性。 集成电路测试（IC测试）的主要目的是区分合格芯片与不合格芯片，以确保产品的质量和可靠性。随着集成电路技术的快速发展，其规模日益扩大，对电路的质量和可靠性的要求也越来越高，这使得集成电路的测试方法变得更加复杂且具有挑战性。因此，研究和发展IC测试变得尤为重要。其中，作为IC测试中的重要组成部分——测试向量的研究也日渐关键。 1. IC 测试 1.1 IC测试原理 IC 测试是指根据被测器件（DUT）的特点和功能特性，为其提供特定的输入信号（X），通过测量其输出响应（Y）并与预期结果进行对比来判断该器件是否符合标准。图示了这一基本测试流程模型。 依据不同的设备类型，IC测试可以分为数字电路测试等多种类别。