
基于MemSeg的半监督工业表面缺陷检测方法
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简介:
本研究提出了一种创新的半监督学习框架——MemSeg,专门用于提高工业表面缺陷检测的准确性和效率。该方法通过结合记忆机制和分割技术,在标记数据有限的情况下有效提升模型性能。
MemSeg是一种半监督方法用于工业图像表面缺陷检测。
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简介:
本研究提出了一种创新的半监督学习框架——MemSeg,专门用于提高工业表面缺陷检测的准确性和效率。该方法通过结合记忆机制和分割技术,在标记数据有限的情况下有效提升模型性能。
MemSeg是一种半监督方法用于工业图像表面缺陷检测。


