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Java解析STDF文件分析

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简介：
本项目专注于使用Java语言开发解析STDF（Standard Test Data Format）文件的功能，旨在为半导体测试数据分析提供高效解决方案。通过精确提取与解读STDF格式数据，助力用户实现复杂的数据处理和报告生成任务。 ### Java解析STDF文件 #### 引言与背景 随着半导体行业的快速发展，测试数据的标准化变得尤为重要。在这一背景下，STDF（Standard Test Data Format）作为一种被广泛接受的标准格式应运而生。它旨在提高不同制造商之间的数据兼容性和可移植性。本段落将详细介绍如何使用Java语言解析STDF文件，并探讨其数据结构、解析方法以及具体应用。 #### STDF文件概述 STDF文件主要用于存储半导体测试数据，是一种二进制文件格式，包含了多种不同类型的数据记录。这些记录按特定的顺序排列，用于表示不同的测试结果和信息。每个数据记录都由头部信息和实际数据两部分组成，头部信息包括数据长度（5字节）、数据类型（1字节）和子类型（1字节）。 #### 数据记录详解 STDF文件中的数据记录可以分为多种类型，每种类型都有其独特的含义。以下是一些常见的数据记录及其解释： - **FAR (File Attributes Record)**：文件属性记录，标识文件的版本等基本信息。 - 数据类型：1 - 子类型：1 - 位置：文件开头 - **PCR (Part Count Record)**：部件计数记录，记录测试过程中的合格与不合格数量。 - 数据类型：5 - 子类型：1 - 位置：跟随FAR之后 - **HDR (Header Record)**：头部记录，包含测试设备的信息。 - 数据类型：2 - 子类型：1 - 位置：跟随PCR之后 - **PTR (Pin record)**：管脚记录，用于记录测试中使用的管脚信息。 - 数据类型：10 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **SBR (Site Configuration Record)**：站点配置记录，描述了测试站点的配置。 - 数据类型：6 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **PSR (Pin Site Map Record)**：管脚站点映射记录，指示了哪个管脚连接到哪个测试站点。 - 数据类型：11 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **PGR (Part Grade Record)**：部件等级记录，指示了测试后的部件等级。 - 数据类型：12 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **MRR (Master Results Record)**：主结果记录，汇总了测试结果。 - 数据类型：13 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **SDR (Setup Description Record)**：设置描述记录，描述了测试设置。 - 数据类型：2 - 子类型：2 - 位置：可选记录 - **PIR (Pin Information Record)**：管脚信息记录，提供了有关管脚的详细信息。 - 数据类型：10 - 子类型：2 - 位置：可选记录 - **PDR (Part Description Record)**：部件描述记录，描述了被测部件的信息。 - 数据类型：3 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **HBR (Header Bank Record)**：头部银行记录，用于分组多个HDR记录。 - 数据类型：2 - 子类型：3 - 位置：可选记录 - **STR (Site Test Record)**：站点测试记录，记录了每个测试站点的具体测试结果。 - 数据类型：4 - 子类型：1 - 位置：可选记录 #### Java解析STDF文件 为了能够解析STDF文件，我们需要编写Java程序来逐条读取并处理这些记录。定义一个基础类`StdfRecord`，用于存储通用信息。接着为每种数据记录定义具体的子类，如`FARRecord`、`PCRRecord`等。 ##### 示例代码 下面是一个简单的Java类定义示例，用于处理 `FAR` 记录： ```java public class FARRecord extends StdfRecord { private byte fileVersion; private byte headerLength; public FARRecord() { super(1, 1); // 设置数据类型和子类型 } @Override public void read(byte[] data) { this.fileVersion = data[0]; this.headerLength = data[1]; } @Override public String toString() { return FARRecord{ + fileVersion= + fileVersion + , headerLength= + headerLength + }; } } ``` ##### 主程序流程 1. 打开STDF文件。 2. 逐行读取数据记录。 3. 根据记录的数据

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  • Java解析STDF文件分析
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    本项目专注于使用Java语言开发解析STDF（Standard Test Data Format）文件的功能，旨在为半导体测试数据分析提供高效解决方案。通过精确提取与解读STDF格式数据，助力用户实现复杂的数据处理和报告生成任务。 ### Java解析STDF文件 #### 引言与背景 随着半导体行业的快速发展，测试数据的标准化变得尤为重要。在这一背景下，STDF（Standard Test Data Format）作为一种被广泛接受的标准格式应运而生。它旨在提高不同制造商之间的数据兼容性和可移植性。本段落将详细介绍如何使用Java语言解析STDF文件，并探讨其数据结构、解析方法以及具体应用。 #### STDF文件概述 STDF文件主要用于存储半导体测试数据，是一种二进制文件格式，包含了多种不同类型的数据记录。这些记录按特定的顺序排列，用于表示不同的测试结果和信息。每个数据记录都由头部信息和实际数据两部分组成，头部信息包括数据长度（5字节）、数据类型（1字节）和子类型（1字节）。 #### 数据记录详解 STDF文件中的数据记录可以分为多种类型，每种类型都有其独特的含义。以下是一些常见的数据记录及其解释： - **FAR (File Attributes Record)**：文件属性记录，标识文件的版本等基本信息。 - 数据类型：1 - 子类型：1 - 位置：文件开头 - **PCR (Part Count Record)**：部件计数记录，记录测试过程中的合格与不合格数量。 - 数据类型：5 - 子类型：1 - 位置：跟随FAR之后 - **HDR (Header Record)**：头部记录，包含测试设备的信息。 - 数据类型：2 - 子类型：1 - 位置：跟随PCR之后 - **PTR (Pin record)**：管脚记录，用于记录测试中使用的管脚信息。 - 数据类型：10 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **SBR (Site Configuration Record)**：站点配置记录，描述了测试站点的配置。 - 数据类型：6 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **PSR (Pin Site Map Record)**：管脚站点映射记录，指示了哪个管脚连接到哪个测试站点。 - 数据类型：11 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **PGR (Part Grade Record)**：部件等级记录，指示了测试后的部件等级。 - 数据类型：12 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **MRR (Master Results Record)**：主结果记录，汇总了测试结果。 - 数据类型：13 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **SDR (Setup Description Record)**：设置描述记录，描述了测试设置。 - 数据类型：2 - 子类型：2 - 位置：可选记录 - **PIR (Pin Information Record)**：管脚信息记录，提供了有关管脚的详细信息。 - 数据类型：10 - 子类型：2 - 位置：可选记录 - **PDR (Part Description Record)**：部件描述记录，描述了被测部件的信息。 - 数据类型：3 - 子类型：1 - 位置：可选记录 - **HBR (Header Bank Record)**：头部银行记录，用于分组多个HDR记录。 - 数据类型：2 - 子类型：3 - 位置：可选记录 - **STR (Site Test Record)**：站点测试记录，记录了每个测试站点的具体测试结果。 - 数据类型：4 - 子类型：1 - 位置：可选记录 #### Java解析STDF文件 为了能够解析STDF文件，我们需要编写Java程序来逐条读取并处理这些记录。定义一个基础类`StdfRecord`，用于存储通用信息。接着为每种数据记录定义具体的子类，如`FARRecord`、`PCRRecord`等。 ##### 示例代码 下面是一个简单的Java类定义示例，用于处理 `FAR` 记录： ```java public class FARRecord extends StdfRecord { private byte fileVersion; private byte headerLength; public FARRecord() { super(1, 1); // 设置数据类型和子类型 } @Override public void read(byte[] data) { this.fileVersion = data[0]; this.headerLength = data[1]; } @Override public String toString() { return FARRecord{ + fileVersion= + fileVersion + , headerLength= + headerLength + }; } } ``` ##### 主程序流程 1. 打开STDF文件。 2. 逐行读取数据记录。 3. 根据记录的数据
     
  • 基于JAVA的STDF文件分析.pdf
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    本PDF文档深入探讨了利用Java技术进行STDF（Standard Test Data File）文件解析的方法与实践，旨在为半导体测试数据处理提供高效解决方案。 Java解析STDF文件涉及的是对半导体测试数据的处理与分析。STDF（Standard Test Data Format）是一种二进制格式，由Teradyne公司创建，用于标准化半导体测试数据存储及交换，并解决不同测试系统间的数据兼容性问题。这些文件包含多种记录类型，如FAR（文件属性数据）、MIR（模块信息记录）、PCR（程序控制记录），以及MRR（主要结果数据）。每种类型的记录都有特定的头信息结构和内容。 解析STDF文件的关键步骤包括： 1. **理解STDF格式**：熟悉不同种类的数据记录及其在文件中的顺序，例如FAR通常作为每个文件的第一个记录出现。 2. **定义Java类**：创建一个基础`STDRRecord`类来存储通用头信息，并为特定类型的记录（如`MIRRRecord`, `PCRRecord`)建立子类以容纳其特有的数据字段和方法。 3. **解析内容**：使用Java的ByteBuffer读取文件，根据每个记录的长度、类型及子类型实例化相应的对象并填充具体数据。例如，在处理FAR时，可以利用`get()`函数从缓冲区中提取特定的数据值。 4. **加载与映射文件**： ```java FileInputStream infile = new FileInputStream(stdffile).getChannel(); int fileSize = (int) infile.size(); ByteBuffer in = infile.map(FileChannel.MapMode.READ_ONLY, 0, fileSize); ``` 5. **循环读取记录并处理**：遍历整个文件，调用`readSTDFRecord()`函数解析每个记录的类型，并根据其具体类别进行进一步的数据提取和分析。 6. **获取记录信息**： ```java int recordLength = (int) (in.getShort() & 0xffff); int recordType = (int) in.get() & 0xff; int recordSubType = (int) in.get() & 0xff; STDRRecord record = readSTDFRecord(recordLength, recordType, recordSubType); ``` 7. **根据记录类型执行相应操作**：通过条件判断或switch语句来决定如何处理每种类型的记录。 遵循以上步骤，可以编写一个Java程序以读取、解析并分析半导体测试的STDF文件。这种工具对于行业来说非常有用，因为它能帮助用户统一处理来自不同系统的数据，并且为开发者提供了学习和参考的例子。
     
  • 基于JAVA的STDF文件分析_郑立钧
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    本项目由郑立钧开发，旨在提供一个基于Java的工具，用于解析和处理半导体测试数据格式（STDF）文件。该工具有助于高效管理和分析测试数据。 在半导体行业中，测试数据的兼容性和标准化一直是一个重要的研究课题。随着技术的进步，越来越多的供应商开始提供网络化的测试系统以弥补传统测试系统的不足，并且为了获取更多利润，这些系统需要能够处理来自不同设备的测试数据。为此，Teradyne公司开发了一种名为STDF（Standard Test Data Format）的简单、灵活的测试数据格式，旨在解决测试数据兼容性问题。 STDF是一种二进制文件格式，不能直接通过文本编辑器查看。了解其内部结构是分析和处理STDF文件的前提条件。每个STDF文件由若干个数据记录组成，每条记录包含头信息和实际数据两部分。头信息包括长度（2字节）、类型（1字节）及子类型（1字节）。这些类型的组合决定了特定的数据含义；例如，FAR的代码是0和10，MRR则是1和20。 STDF文件必须包含FAR、MIR、PCR以及MRR记录。其他如ATR、RDR或SDR等数据记录则为可选，并且它们在文件中的排列顺序也有规定：例如，FAR通常位于最前端，随后可能是多个ATRs，接着是MIR；而RDR和SDR可以紧随其后。 要处理STDF文件的信息，则需要编写程序来读取并解析这些二进制数据。首先定义一个基类STDFRecord，并包含一些基本字段信息，然后为每种类型的数据创建子类。例如，FARRecord继承自STDFRecord，它包含了CPU类型和STDF版本等详细信息；通过文件中的字节序列获取对应值。 主程序处理STDF文件的流程大致如下： 1. 打开STDF文件并获取通道； 2. 确定文件大小后映射至内存中以进行读取； 3. 从数据记录头开始，依次读入长度、类型和子类型的详细信息。 4. 根据所获头部信息创建相应对象实例，并执行进一步处理。 在操作STDF文件时需要注意各条目排列顺序及相互依赖关系；例如FAR必须位于起始位置。此外，针对不同数据类型可能需要实现特定的字段解析方法来适应具体需求。 这篇文章由飞思卡尔半导体（中国）有限公司系统分析师郑立钧撰写并分享了他对STDF格式分析的经验以及部分源代码片段，为读者提供了参考和借鉴的机会。他的研究领域集中在计算机集成制造方面，表明其在半导体测试数据处理技术上具备丰富经验和技术背景。通过该文档的学习，我们可以掌握利用Java语言来解析与管理二进制形式的STDF文件的方法，从而进一步推动半导体行业内的测试数据标准化进程。
     
  • STDF库：STDF解析工具库
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    简介：STDF库是一款专业的STDF文件解析工具库，提供高效便捷的数据处理功能，适用于半导体测试数据的分析与管理。 Semi-ATE的STDF（标准测试数据格式）库并非旨在成为万能解决方案！人们经常寻找“最快”的STDF解析器；如果您这样做，并最终碰壁的话，可能需要重新考虑您的选择。 编写一个快速解析器通常意味着要放弃大量检查和校正才能真正实现速度提升。并且可能会忽略一些信息，这些信息在后续分析中被证明是至关重要的。然而，在现实生活中，STDF文件往往不够完善，这意味着即使最快的解析器也可能无法满足预期的工作需求！ 即便您对某个特定的ATE系统进行了调整以适应环境中的数据交互，这仍然不能解决所有问题！总而言之，在需要与数据进行互动时再去解析STDF文件已经太迟了……这样做会使您的工作变得非常低效（更不用说在现代技术环境中显得过时）。 一个优秀的解析器应该是用高级语言编写的，并且要执行大量的检查和校正，同时不会忽略任何信息。
     
  • 个人开发的全面功能STDF文件解析工具STDF TOOL
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    简介：STDF TOOL是一款专为个人开发者打造的强大解析工具，能够高效处理和分析半导体测试数据标准（STDF）文件，提供全面的功能支持和灵活的数据查看、编辑及导出能力。 个人开发了STDF文件解析软件 STDF TOOL，最初是为了方便公司同事查看stdf文件而编写，使用的是Python语言。有兴趣的用户可以测试一下这款全功能工具。关于该工具的简单介绍可以在提供的链接中查看。
     
  • STDF分析软件，功能完备
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    这款STDF分析软件具备全面的功能模块，能够高效处理和解析半导体测试数据，适用于多种测试需求。 STDF（半导体测试数据格式）分析软件是专为半导体测试行业设计的专业工具，能够处理和解析由测试设备生成的数据文件，并从中提取芯片生产过程中的各种信息。该标题“功能齐全”暗示了这款软件具有广泛的功能，可以满足用户在STDF数据分析上的多种需求。 STDF格式作为半导体行业的标准数据格式，包含了诸如测试结果、设备状态以及测试时间等多种关键信息，用于提升质量和提高生产效率。通过分析这些数据可以帮助工程师识别出生产流程中的问题，并优化测试程序以确保产品的可靠性和质量。 这款软件可能具备以下核心功能： 1. 数据导入：能够快速有效地支持多种类型的STDF文件，包括VSTDF（变量STDF）、ASTDF（抽象STDF）、MSTDF（模块化STDF）和PSTDF（参数STDF）等格式。 2. 数据解析：深度分析并提取关键信息如测试失败原因、故障模式及测试时间，并以图形或表格的形式展示，便于理解和分析。 3. 故障分析：提供详细的故障模式报告，帮助用户定位生产线上的问题，以便及时调整测试策略和流程。 4. 报告生成：自动生成包含统计详情的全面分析报告，包括测试分布、性能趋势等信息，为决策者提供了直观的数据支持。 5. 数据可视化：通过图表和仪表盘将复杂数据以直观的方式呈现出来，帮助用户快速理解整个生产过程中的关键指标与问题点。 6. 自定义过滤与排序：允许根据特定条件筛选及排列数据，如测试结果、缺陷类型等，以便于关注重点区域的问题解决。 7. 数据导出：支持多种格式的数据输出选项（例如CSV和Excel），方便进一步的分析以及与其他团队成员共享信息。 8. 插件扩展：可能具备插件系统以允许用户根据自身需求定制或安装第三方工具，增强软件的功能性与灵活性。 压缩包中的STDF_Extractor_2.98.exe可能是该软件的最新版本安装程序。随着多个迭代优化后的成熟产品，它很可能包含了一些新的特性或者修复了已知的问题点。 综上所述，对于半导体制造企业而言，这款分析工具是不可或缺的一部分，能够帮助企业提高测试效率、降低生产成本，并确保产品的高质量标准。通过全面深入地解析STDF数据集可以洞察生产线的具体运行状况并及时发现和解决问题，从而提升整体的生产和产品质量。
     
  • STDF文件标准详解——解析其格式规范
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    本文章深入剖析STDF文件的标准与格式规范，旨在帮助读者全面理解该文件结构及其应用细节，适用于半导体测试数据处理领域。 本段落介绍了STDF（Standard Test Data Format）规范的第四个版本，包括Teradyne公司使用该规范的情况、STDF的设计目标以及其记录结构和头文件的内容。STDF规范详细解释了格式化后的测试数据交换标准方式。
     
  • STDF-View解析查看工具
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    STDF-View是一款专为半导体测试数据设计的数据解析与可视化软件工具。它能够高效解析STDF文件，并提供直观的数据展示和分析功能，帮助工程师快速定位生产中的问题，优化测试流程。 半导体测试数据log文件（如STDF格式）的查看软件可以用来浏览STDF中的test table，并生成散点图、直方图等功能。此外，该软件还可以将数据导出为Excel表格。关于更详细的信息，请参考我的另一篇文章《STDF-View》简介。
     
  • NEDA STDF分析工具版本12.132
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    NEDA STDF分析工具版本12.132是一款专为半导体行业设计的数据解析软件，能够高效处理和分析STDF格式数据，优化测试流程并提升产品质量。 NEDA STDF分析工具 V12.132 的安装程序提供了为期一个月的试用期。用户可以在 Help - License - Activate Online 选项中在线获取30天的试用授权。
     
  • Java解析CSV文件示例分享
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    本文章详细介绍了如何使用Java编程语言来读取和解析常见的CSV（逗号分隔值）格式的文件。包括代码实例与步骤详解，适用于初学者快速入门。 主要介绍了Java读取CSV文件的示例。这个解析CSV文件的例子非常简单，下面直接给出代码供参考使用。