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基于ATE的SoC射频测试方法技術研究

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简介：
本研究专注于探索和开发基于自动测试设备（ATE）的片上系统（SoC）射频模块测试技术，旨在提高集成电路生产的可靠性和效率。通过优化测试流程及算法设计，有效解决SoC复杂度增加所带来的测试挑战。 ATE（Automatic Test Equipment：自动测试设备）测试采用相关的ATE设备开发相应的测试程序进行芯片的量产测试，这些程序通常只包含必要的系统级测试项目。对于SoC芯片中的射频部分来说，由于涉及到射频信号完整性和电磁兼容性等问题，并且基带算法复杂多样，因此成为SoC芯片测试中的难点。

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  • 基于ATE的SoC射频测试方法技術研究
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    本研究专注于探索和开发基于自动测试设备（ATE）的片上系统（SoC）射频模块测试技术，旨在提高集成电路生产的可靠性和效率。通过优化测试流程及算法设计，有效解决SoC复杂度增加所带来的测试挑战。 ATE（Automatic Test Equipment：自动测试设备）测试采用相关的ATE设备开发相应的测试程序进行芯片的量产测试，这些程序通常只包含必要的系统级测试项目。对于SoC芯片中的射频部分来说，由于涉及到射频信号完整性和电磁兼容性等问题，并且基带算法复杂多样，因此成为SoC芯片测试中的难点。
     
  • 基于神经网络的滚动轴承故障检测方法技術研究
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    本研究探讨了利用神经网络技术进行滚动轴承故障检测的方法与应用，旨在提高故障识别精度和效率。通过优化算法模型，实现对设备状态的有效监控与维护决策支持。 滚动轴承是机械中最常用的通用部件之一。由于其特定的使用环境导致寿命具有较大的随机性，目前还无法准确预测其寿命。因此，对滚动轴承进行故障诊断变得非常重要。本段落通过对滚动轴承振动数据在时域和频域上的分析，并利用神经网络处理结果，采用“判决区间+举手表决”的方式得出最终判断结果。
     
  • 基于模型约束的灰盒模糊测试方法技術
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    本技术介绍一种结合了模型约束与灰盒策略的模糊测试方法，用于提升软件安全检测效率及漏洞发现能力。 基于模型约束的灰盒模糊测试技术由孙伯文和崔宝江提出。这种模糊测试方法是目前常用且有效的手段之一，它能够通过获取程序执行过程中的路径信息来指导模糊测试的过程。
     
  • 基于ATE的IC测试原理与方法分析
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    本文章主要探讨了集成电路（IC）测试中使用自动测试设备（ATE）的原理和方法，并深入分析了其在提高IC产品可靠性和质量方面的应用。 本段落介绍了基于ATE的集成电路测试原理与方法，涵盖了电气特性测试及功能测试的基本原则。文中详细阐述了通用测试技术，并探讨了一些当今流行的特殊测试手段。此外，文章还通过一个具有代表性的具体电路实例进行了常见故障分析。
     
  • SOC测试方法
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    SOC（System On Chip）测试方法是指针对集成在一个芯片上的完整系统进行功能验证、性能评估及故障检测的一系列技术手段和流程。 SOC测试方法 1.1 放电动态测试 所需设备：BMS、充满电的电池包及充放电设备。 测试步骤： 1. 使用1c电流进行放电，持续时间10分钟，并计算出安时量。 2. 进阶测试中，可以改变电流值（例如先以0.3c放电3分钟后转为0.5c再放电3分钟，最后使用1c继续放电3分钟），并分别记录每个阶段的安时量。 3. 查看程序计算出的结果。 4. 将实际测量得到的数据与程序计算结果进行对比，以评估精度。 充电动态测试步骤： 1. 使用1c电流进行充电，持续时间10分钟，并计算出安时量。 2. 进阶测试中可以调整电流值（例如先以0.3c充电3分钟后转为0.5c再充3分钟，最后使用1c继续充3分钟），并分别记录每个阶段的安时量。 3. 查看程序计算得到的结果。 4. 将实际测量的数据与程序结果进行对比，评估精度。
     
  • 基于空间光调制器的光学显微成像方法技術研究
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    本研究聚焦于利用空间光调制器优化和革新光学显微镜技术，旨在提高图像分辨率与质量，探索其在生物医学领域的应用潜力。 空间光调制器（SLM）是一种用于调整光波场分布的元件，在众多领域如光学信息处理、光束变换及显示技术中扮演着重要角色。随着高分辨率的空间光调制器在光学显微镜系统中的应用，该技术显著提升了对样品振幅和相位进行显微成像时的清晰度与对比度。这不仅支持了传统相位显微术的应用，还通过更加复杂的相位调节方式促进了新型显微技术的发展。此外，在光学显微镜中，SLM不仅可以调控照射到样品上的光束，还可以作为空间傅里叶滤波器应用于成像路径之中。综上所述，本段落总结了SLM在光学显微系统中的多种灵活应用。
     
  • 基于能量的频谱检测方法研究.m
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    本论文聚焦于频谱检测技术的研究，提出了一种基于能量的创新检测方法，旨在提高频谱感知准确性与效率。通过深入分析信号的能量特性，该方法能够有效识别和利用频谱空洞资源，为无线通信系统中的频谱共享提供有力支持。 利用MATLAB实现了基于能量的频谱感知，并针对BPSK调制信号，在不同信噪比的情况下展示了检测性能的结果。
     
  • TD-LTE基站射频一致性的测试研究与应用
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    本研究聚焦于TD-LTE技术下基站射频一致性测试方法的研究及实际应用，旨在提升通信网络性能和质量。 目前LTE技术已成为移动通信网络演进的关键环节。TD-LTE基站作为3GPP无线接入网中的唯一组件，其射频性能直接影响到整个网络的覆盖范围、容量以及服务质量。本段落首先介绍了TD-LTE基站系统结构及相关的射频测试标准；接着在深入研究了TD-LTE基站射频一致性测试的基础上，分析了各测试项目的物理意义及其对实际网络部署的影响；最后提出了一种可行的基站射频一致性测试方案，并评估了一些关键测量结果的实际表现。
     
  • 半导体ATE自动化测试行业研究报告
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    本报告深入分析了全球及中国半导体ATE（Automatic Test Equipment）自动化测试行业的现状、趋势与前景。涵盖了市场规模、竞争格局和技术创新等方面的内容，为业内人士提供详实的数据支持和战略建议。 半导体测试是设计与生产过程中的关键环节。它通过测量半导体的输出响应并与预期输出进行比较来确定或评估集成电路的功能和性能，主要涉及电学参数测试。每个芯片通常需要经历两类测试： 一是参数测试，这种测试用于确认芯片管脚是否符合各种上升时间、下降时间、建立时间和保持时间以及高低电压阈值和电流规范的要求。它包括直流（DC）参数测试与交流（AC）参数测试。其中，直流参数测试涵盖短路检测、开路检查及最大电流试验等项目；而交流参数测试则包含传输延迟评估、建立时间和保持时间验证、功能速度测量等内容。这些测试通常都具有工艺相关性。 CMOS输出电压的测定是此类测试中的一个重要方面。
     
  • 基频提取方法研究
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    本研究聚焦于声音信号处理中的核心问题——基频提取，探索并分析多种算法和技术，旨在提高语音识别与合成的质量和效率。 基于线性预测进行基音周期的提取，采用自相关函数方法在MATLAB中实现。