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ADC过采样技术的应用和原理。

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简介:
AD转换的过采样技术通常包含三个关键步骤:首先,高速模拟信号被采样,其采样频率相对于输入信号的频谱而言;其次,应用数字低通滤波器进行滤波处理;最后,对数字序列进行抽取。实施这项技术能够有效地保留输入信号的大部分信息内容,同时显著降低了对输入信号频谱的精度要求,并最终提升采样子系统的整体性能。

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  • ADC实现与
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    《ADC过采样技术的实现与原理》一文深入探讨了模数转换器中过采样的工作方式及其背后的理论基础,详述了提高信号分辨率和减少量化噪声的技术细节。 AD转换的过采样技术通常包括三个步骤:首先以高于输入信号频谱所需的速率对模拟信号进行高速采样;其次通过数字低通滤波器处理这些数据;最后从数字序列中抽取所需的信息。采用这种技术,可以保留输入信号的有效信息,并且降低对输入信号频谱的要求,同时提高采样子系统的精度。
  • 提高STM32 ADC精度
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    本文探讨了如何通过引入过采样技术来增强STM32微控制器ADC模块的数据采集精度,旨在为高精度测量应用提供解决方案。 通过采用过采样技术可以提高STM32的ADC采样精度。
  • 将10位ADC变为16位方法
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    本文章介绍了一种通过过采样技术,将10位精度的模数转换器(ADC)性能提升至等效于16位分辨率的方法。文中详细解析了过采样原理及其在提高信号处理系统中的应用价值。 如果你想将10位ADC转换为16位精度,可以使用过采样技术实现。文件夹内包含具体的实施方法及数学原理的解释。我已经实际应用过这种方法,并证明它是可行的。
  • 求均值提升ADC分辨率
    优质
    本文探讨了一种提高模数转换器(ADC)分辨率的方法,通过采用采样过采样及求均值技术,有效提升了信号处理精度与质量。 本应用笔记讨论了如何通过过采样和求均值的方法来提升模/数转换器(ADC)测量的分辨率。此外,本段落最后的附录A、B和C分别提供了对ADC噪声的深入分析,包括最适合使用过采样技术的ADC噪声类型以及采用过采样和求均值技术的实际示例代码。
  • 与欠比较
    优质
    本文章对数据挖掘中常用的过采样和欠采样技术进行深入探讨,分析两者的工作原理及应用场景,并对比其优缺点。适合机器学习初学者阅读参考。 本段落详细阐述了过采样和欠采样的工作原理,并从实际工程应用的角度对比分析了两者的特点。
  • 基于GD32F40716通道ADC与DMA
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    本项目介绍了一种采用GD32F407微控制器实现的16通道模拟数字转换(ADC)采样系统,并结合直接存储器访问(DMA)技术,有效提升数据传输效率。 项目基于GD32F407ZGT6立创梁山派开发板V1.0.2进行设计,使用KEIL MDK-ARM PLUS V5.35作为软件开发环境,并采用GD32F4xx标准固件库V3.0.0来实现一个包含16路ADC采样和DMA功能的测试程序。
  • 及其分析(学论文)
    优质
    本文深入探讨了双采样技术的基本概念、工作原理及应用,并对其背后的理论依据进行了详尽分析。适合对信号处理与通信工程感兴趣的读者阅读。 本段落详细介绍了CCD输出信号成分分析,包括复位噪声、暗电流噪声以及有用信号的介绍,并且深入讲解了双采样的原理。文章内容详尽丰富,涵盖了该主题的关键方面。
  • STM32ADC多通道集与多重ADC,皆DMA
    优质
    本文介绍了如何使用STM32微控制器进行ADC多通道数据采集,并结合DMA技术提升效率,实现高效的数据传输。 STM32的ADC多通道采集和多重ADC功能都使用了DMA技术。