
电子元件(电阻、电容、电感)与半导体器件的失效分析
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简介:
本课程专注于电子元件如电阻、电容、电感及各类半导体器件的失效机理分析,深入探讨其在实际应用中的可靠性和寿命问题。
电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移以及非稳定失效等。对于硬件工程师而言,处理电子元器件的失效问题是一项非常棘手的任务,比如某个半导体器件外表看似完好无损但实际上已部分或完全损坏,在电路调试过程中会浪费大量时间,并且有时甚至会导致设备故障。
因此,了解各类电子元器件的失效机制和特性是每位硬件工程师必备的知识。接下来将详细说明各种类型电子元件的具体失效模式与机理。
电阻器的主要失效形式及其原因如下:
1) 开路:主要由电阻膜烧毁引起。
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