
In-Situ De-embedding.pdf
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简介:
本文介绍了《In-Situ De-embedding》技术,该方法能够在不移除待测设备的情况下精确测量电子元件的特性参数,适用于高频电路设计中的测试需求。
In-Situ De-embedding是一种技术或方法,在此过程中不需要移除元件即可进行精确的电气特性测量。这种方法在高频电路设计与测试领域尤为重要,因为它能够减少由于物理去除过程对组件可能造成的损害,并提供更准确的数据用于后续分析和优化。
需要注意的是,该描述未包含任何具体的联系方式、链接或其他额外信息。
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