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电子产品环境检测技术 GJB151B RE102-10kHz~18GHz 电场辐射发射测试操作指南.pdf

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简介:
本手册详细介绍了依据GJB151B标准进行RE102频段(10kHz至18GHz)电子产品电场辐射发射测试的操作流程与技术规范,旨在指导专业人员准确执行环境检测任务。 电子产品环境检验技术GJB151B RE102-10kHz~18GHz电场辐射发射测试作业指导书.pdf是一份学习资料、复习资料及教学资源,适用于相关课程的学习与参考。

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  • GJB151B RE102-10kHz~18GHz .pdf
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    本手册详细介绍了依据GJB151B标准进行RE102频段(10kHz至18GHz)电子产品电场辐射发射测试的操作流程与技术规范,旨在指导专业人员准确执行环境检测任务。 电子产品环境检验技术GJB151B RE102-10kHz~18GHz电场辐射发射测试作业指导书.pdf是一份学习资料、复习资料及教学资源,适用于相关课程的学习与参考。
  • 干扰.pdf
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    本手册详细介绍了电子产品在进行辐射干扰测试时的操作流程和注意事项,旨在帮助工程师和技术人员准确执行环境检测,确保产品符合电磁兼容性标准。 《电子产品环境检验技术 辐射骚扰测试作业指导书.pdf》是一份学习资料、复习资料及教学资源。
  • -灯具防水.doc
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    本文档详细介绍了电子产品环境中针对灯具进行的防水性能测试方法和技术,旨在确保灯具在各种恶劣天气条件下仍能安全可靠地运行。 在电子产品的设计与生产过程中,环境检验技术是至关重要的环节之一。尤其是对于灯具这类设备,在实际使用中可能会遇到各种环境条件的影响,如尘土、固体颗粒物的侵入以及湿度的变化等。 本段落档主要探讨的是灯具防水测试的相关内容,以确保产品能在特定环境中正常工作。根据IEC 60598-1:2014标准中的第9.2.2条和第9.2.6条的规定,该标准为照明设备设定了防护等级要求。其中IP65意味着灯具具备防尘(IP6)及防水溅(IP5)的能力:防尘等级“6”表示能够防止任何灰尘进入;而防水等级“5”则表明它能抵御来自各个方向的水喷射而不受影响。 测试报告编号LCZS15030083,由LCTECH (Zhongshan) Testing Service Co., Ltd.在广东省中山市小榄镇广源路技术与企业服务中心2楼出具。该报告中提到的产品型号为KON-DVP-182-14-FA-JY的三防灯罩,其额定功率范围是100至277V、50Hz,并且防护等级达到了IP65。 测试日期确定在了2015年3月31日。结果显示该灯具顺利通过防水和防尘性能检测,得到了“P”(Pass)的评价。这表明不论是在室内还是室外环境中使用时,这款灯具都能够有效防止灰尘进入,并能抵挡雨水或潮湿环境的影响,从而保证其正常运行。 报告进一步指出,上述测试结果仅适用于此次提交样品的情况,并不能推广至整个系列产品质量保障中去。也就是说尽管当前样本满足了防护等级的要求,在批量生产其他同类产品之前仍需单独验证性能指标是否达标。 综上所述,电子产品环境检验技术中的灯具防水测试是一项严格的品质控制措施,旨在确保灯具在复杂环境下依然能够提供稳定可靠的服务表现。通过遵循国际标准进行严格检测可以有效提升产品的稳定性并降低故障率,从而增强用户对品牌的信心。同时制造商也需要持续监控和改进生产流程以保证所有产品都达到预期的防护等级要求。
  • TI出手册
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    本手册由TI公司编制,旨在指导消费者了解其电子产品可能产生的电磁辐射情况,并提供相关安全使用建议。 《电子产品辐射手册-TI》是德州仪器(TI)发布的一份详尽文档,主要针对电子设备在空间、工业及地面应用中的辐射问题进行了深入探讨。这份手册不仅适用于航天领域,也对地面和工业环境中的电子设计者极具价值。 手册共分为八章,内容涵盖广泛的辐射知识: **第一章:辐射环境** 1.1 航天辐射环境:介绍了太空中各种辐射源,如太阳粒子事件、银河宇宙射线和地球辐射带,以及它们对电子设备的影响。 1.2 地球辐射环境:讨论了地球大气层对不同能量辐射的吸收和散射情况,以及地表的辐射状况。 1.3 人工辐射环境:关注由核设施、医疗设备或高能粒子加速器等产生的辐射环境。 **第二章:物质中的辐射效应** 2.1 辐射基础:解释了辐射的基本概念,包括类型、能量和剂量。 2.2 物质中的粒子相互作用:阐述了辐射粒子与物质相互作用的机制,如电离、激发等。 2.3 线性能量转移(LET):定义了LET并探讨其在评估辐射损伤中的重要性。 2.4 辐射屏蔽:讨论了不同材料对辐射的屏蔽效果及其选择原则。 **第三章:剂量效应下的电子设备辐射效应** 3.1 总电离剂量效应:讨论了长期累积辐射剂量对电子元器件性能的影响。 3.2 撞击位移损伤:讲述了原子在高能辐射下被撞击出原有位置导致的材料性能变化。 **第四章:单事件效应** 4.1 破坏性和非破坏性单事件效应:区分了两种不同类型的效果,包括对电路功能的暂时或永久影响。 4.2 单事件瞬变:详细解释了所有单事件效应的基础——瞬态现象。 4.3 数字和模拟单事件瞬变:比较了这两种系统中的瞬变响应差异。 4.4 单事件翻转:讨论了存储元件由于单个粒子引发的状态变化。 4.5 单事件功能中断:阐述了辐射导致的系统级功能中断。 4.6 单事件锁定(SEL):解释了如何防止和处理SEL,以保护电路不受损害。 4.7 单事件门破裂和单事件烧断:分析了这些可能导致设备失效的现象。 4.8 立即剂量效应:探讨了高剂量率辐射的即时影响。 **第五章:按技术划分的辐射敏感性** 5.1 总电离剂量:根据不同的半导体工艺和技术评估电子设备对总电离剂量的敏感度。 5.2 单事件效应:讨论了各种技术在抵抗单事件效应方面的表现。 **第六章:减轻辐射效应的方法** 6.1 偶然的辐射坚固性:探讨了设计过程中不可预见的辐射防护特性。 6.2 工艺级别的辐射硬化:介绍通过改进制造过程来提高电子设备的抗辐射能力。 6.3 设计层面的辐射硬化 - 组件配置解决方案:讨论了通过优化组件组合来增强系统抗辐射性。 6.4 设计层面的辐射硬化 - 布局解决方案:强调布局设计在减少辐射影响中的作用。 6.5 设计层面的辐射硬化 - 电路冗余解决方案:介绍了通过冗余设计提高系统的可靠性。 **第七章:辐射测试与资格认证** 7.1 总电离剂量测试:描述了测试电子设备耐受总电离剂量的方法和标准。 7.2 单事件效应测试:涵盖了检测和量化单事件效应的技术。 7.3 撞击位移剂量测试 - 中子测试:讨论了中子引起的位移损伤的测试手段。 7.4 剂量率或立即剂量测试:分析这些测试对于评估高速辐射影响的重要性。 7.5 地球表面中子和α粒子测试:介绍了地面环境下的特定测试条件。 7.6 德州仪器的辐射测试哲学:阐述了TI在辐射测试方面的方法和理念。 **第八章:德州仪器的辐射硬化产品** 本章详细介绍了TI提供的各种辐射硬化产品,包括芯片、模块和系统解决方案及其在实际应用中的表现与优势。 《电子产品辐射手册-TI》是一份全面而实用的参考资料,为电子工程师提供了理解和应对辐射影响的知识,确保设备在各种环境下的稳定性和可靠性。无论是设计、测试还是选型,手册都提供了宝贵的指导。
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    本PDF文档为国家标准GB17626.3-2006关于射频电磁场辐射抗扰度测试的技术规范,详细规定了设备在受到射频电磁场干扰时的性能要求和试验方法。 GB17626.3-2006《射频电磁场辐射抗扰度试验》提供了关于设备在受到射频电磁场干扰时的性能评估方法,确保产品能够在各种电磁环境中正常工作。该标准详细规定了测试条件、步骤和评价准则,帮助制造商验证其产品的电磁兼容性(EMC)。
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    该标准规定了射频电磁场辐射抗扰度测试的方法和要求,确保电气与电子设备在受到射频干扰时仍能正常运行。它是GB/T 17626系列电磁兼容性标准之一。 GB/T 17626.3-2016《电磁兼容试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》
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    《诺德ND6000选频电磁辐射检测仪》详细介绍了一款专业的电磁辐射测量工具,适用于各种环境中的高频电磁场强度测试。该设备操作简便、精度高,广泛应用于科研、医疗及环保领域,确保用户能够准确掌握不同频率下的电磁辐射水平。 电磁辐射的新规定5G移动基站电磁辐射环境监测方法涉及了新的测量方法及所需仪器,其中包括新诺德ND6000电磁辐射检测仪。
  • CMW500频仪器(中文版 BR EDR)
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    《CMW500电子射频仪器操作与测试指南》为使用者提供了详细的CMW500仪器操作流程及测试方法,适用于BR和EDR技术应用。 电子射频仪器CMW500操作与测试指引(BR EDR)提供了详细的指导,帮助用户了解如何使用该设备进行蓝牙基本速率及增强数据率的相关测试。文档中包含了从初始化设置到具体功能应用的全方位信息,旨在确保技术人员能够高效准确地完成各项任务。