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基于TSMC 18纳米工艺的LDO电路及低压差线性稳压器设计,以及模拟集成电路的Cadence仿真和测试电路模块

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简介:
本项目专注于TSMC 18纳米工艺下的低压差(LDO)线性稳压器的设计与优化,并采用Cadence进行模拟集成电路的仿真及测试,以确保其在低电压条件下的高效稳定运行。 本段落探讨了基于TSMC.18工艺的LDO电路与低压差线性稳压器的设计,并使用Cadence进行模拟集成电路仿真及测试模块的研究。设计中包含了一个内置带隙基准模块,环路中的各个子模块都配有相应的测试电路,可以直接导入到Cadence软件中进行仿真分析。这些设计细节包括了LDO电路、低压差线性稳压器的原理和结构以及如何利用TSMC.18工艺来优化模拟集成电路的设计过程。

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  • TSMC 18LDO线Cadence仿
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  • TSMC 18LDO线——CADENCE仿研究
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    本研究聚焦于采用台积电(TSMC)18nm工艺技术设计低功耗线性稳压器(LDO),结合Cadence仿真工具,探索高性能模拟集成电路的优化与验证。 基于TSMC.18工艺的LDO电路与低压差线性稳压器设计集成了模拟集成电路的设计、Cadence仿真及测试功能于一体的研究成果。该研究涵盖了LDO电路、低压差线性稳压器电路以及采用TSMC.18工艺进行设计的内容,可以直接导入到Cadence软件中查看,并且内置了带隙基准模块。环路中的各个子模块均配备了配套的测试电路,能够直接用于仿真分析。 核心关键词如下: LDO电路; 低压差线性稳压器电路; 模拟集成电路设计; TSMC.18工艺; 导入Cadence查看; 内置带隙基准模块; 环路子模块; 配套测试电路; 导入仿真。
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    本PDF文档深入探讨了LDO低压差线性稳压器的核心电路设计原理与实践应用,涵盖设计挑战、优化策略及性能分析等内容。 本段落介绍了一种LDO低压差线性稳压器的设计,该设计在3V至5V的电压范围内工作,并输出2.5V的稳定电压。它可以驱动最小为2.5Ω的电阻,并能提供高达1A的最大负载电流。核心电路包括基准电压源模块、误差放大器模块、反馈模块和PMOS调整管四个部分。
  • TSMC 181.8伏LDO仿分析:带隙Cadence Virtuoso应用
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    本研究采用台积电(TSMC)18纳米工艺,设计并仿真了适用于1.8V电源系统的低压差(LDO)线性稳压器。通过应用带隙基准电压源技术,并使用Cadence Virtuoso进行电路优化与验证,确保LDO具有优异的性能和稳定性。 基于TSMC 18工艺的1.8V LDO电路设计与模拟报告:带隙基准与Cadence Virtuoso工具应用 这份文档详细介绍了采用TSMC 18纳米工艺技术,进行1.8V低压差线性稳压器(LDO)的设计和仿真。其中包括了带隙基准电压源的深入研究以及使用Cadence Virtuoso设计环境完成整个模拟电路的设计过程。 该报告包含一份详细的工程文件集及长达十四页的设计报告文档,内容覆盖从理论分析到实际应用的所有关键步骤,并且可以直接在电脑上打开查看或进一步编辑修改。此项目特别关注于带隙基准电压源和LDO的集成设计方法,旨在为模拟集成电路(IC)的研发提供实用参考。 关键词:Cadence Virtuoso;1.8V LDO电路设计与仿真;模拟IC设计;TSMC 18工艺技术;Bandgap+LDO。
  • Cadence 1.8V LDO——Cadence VirtuosoLDO带隙报告(
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    本项目基于Cadence Virtuoso平台进行1.8V低压差(LDO)线性稳压器的设计与仿真,重点在于带隙基准电压源的设计及其性能优化。 Cadence 1.8V LDO电路设计 使用Cadence Virtuoso进行模拟电路设计,其中包括LDO带隙基准电路的设计及一份包含14页的Word设计报告。 基于TSMC 18工艺,完成了一款模拟IC的设计,包括带隙基准电压源和1.8V LDO电路。项目包含了工程文件和详细的设计报告,可以直接打开使用。
  • Cadence LDO带隙输出TSMC18RF程文件分享
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    本课程介绍使用Cadence Virtuoso进行1.8V LDO(低压差线性稳压器)电路设计和版图绘制的方法,涵盖模拟电路设计基础与带隙基准源LDO电路的详细分析。 Cadence 1.8v LDO电路设计 使用Cadence Virtuoso进行模拟电路设计的教程涵盖了从基础到高级的设计流程,包括bandgap LDO电路的设计、版图规划以及后仿真验证技巧,并且采用SMIC 130nm工艺库。整个课程包含完整的原理图和版图示例,同时提供详细的工艺库信息。 该教程分为以下几部分: - CMOS工艺中有源与无源器件的介绍 - gm Id设计方法及其曲线仿真的讲解 - Bandgap电路的基础理论概述 - Bandgap电路原理图的设计及直流仿真操作指南 - 对Bandgap电路进行频率响应参数、噪声分析和优化的方法指导 - 提升Bandgap电路可靠性的策略探讨 - 完整的Bandgap版图设计流程介绍,包括drc(设计规则检查)与lvs(布局验证)测试以及后仿真的技巧说明。 - LDO电路结构解析及原理图绘制方法讲解 - 针对LDO电路进行直流、交流和噪声等参数仿真分析的方法指导 - Bandgap与LDO联合仿真及其可靠性评估的实践指南 - 包括版图设计验证到后仿真实施在内的完整LDO版图制作流程解析。 - 滤波器理论及全差分运算放大器的设计方法介绍 - 全差分运算放大器的详细仿真设计过程演示 - 完整的全差分运算放大器版图规划以及后续验证步骤详解,包括后仿真的实施。 此外还包括有源RC低通滤波器的实际设计实践。
  • LDO
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  • TSMC181.8V Cadence LDO带隙报告程文件, 包含...
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  • 静态LDO(一)
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    本文为《低压低静态电流LDO电路设计》系列的第一部分,主要介绍LDO的基本概念、工作原理及其在现代电子设备中的应用,并探讨了低功耗需求的重要性。 随着掌上智能终端的快速发展,低电压低静态电流线性稳压器(Low Drop-out Regulator, LDO)已成为关键电源管理组件之一。LDO因其具有低功耗、高电源抑制比、体积小巧以及设计简洁等特性,在各种移动设备中广泛应用。尤其是对于那些依赖电池供电的设备而言,LDO在低负载条件下的静态电流消耗直接影响着电池的使用寿命。因此,降低静态电流以延长电池寿命是LDO设计的重要目标。 为了实现这一目标,并同时解决可能由此引发的输出电压不稳定性和大的暂态变化问题,一种创新的设计方案被提出:即集成带隙基准电压源和误差放大器的功能,从而减少电路中的静态电流并控制输出电压的瞬态响应。传统的LDO通常采用分立的带隙基准电压源和误差放大器结构,而新的设计则将两者合并在一起,使得静态电流降低至原来的一半左右。尽管这种简化的设计无法调节输出电压,并且需要使用NPN晶体管,在双阱CMOS工艺中通过增加一道掩膜工艺可以解决这些问题,同时成本的增加并不显著。 带隙基准电压源是实现恒压基准的关键。它利用了三极管基射级电压的负温度系数和热力学电压的正温度系数,两者叠加生成一个在室温下具有零温度系数的稳定电压。在简化结构中,晶体管Q3与电阻R2共同定义带隙基准电压;通过PTAT(Proportional to Absolute Temperature)电流与晶体管Q1进行镜像复制以确保两者的基射级电压相等,并且调整电阻R2和R3可以控制三极管的集电极电流,从而实现稳定的基准电压。 LDO的动态行为主要由其环路增益和相位裕度决定。简化结构中的LDO有三个低频极点分别位于增益级、缓冲级以及输出节点处;为了优化暂态特性,通常会在系统中引入一个左半平面零点以补偿系统的相位延迟。这可以通过在输出端串联电阻resr与补偿电容CL来实现。晶体管Q3的集电极电流作为PTAT电流使增益级的输出阻抗相对稳定,并且缓冲级输入电容决定了负载电容,从而确保系统的主要极点p3的稳定性;通过精确匹配极点p1和零点z1可以保持环路稳定性,以维持60°相位裕度。 这种低电压低静态电流LDO的设计创新在于集成带隙基准电压源与误差放大器功能的同时减少电路中的静态电流,并借助精细频率分析及补偿策略确保输出电压的稳定。此设计适用于现代低电压环境下的SoC系统中,有助于提高电池寿命并优化整体性能。