ARL 4460 中文说明书
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简介：
ARL 4460是一款先进的X射线荧光光谱仪，广泛应用于材料科学、地质学及环境监测等领域。本中文说明书详尽介绍了仪器的操作流程、维护保养方法以及故障排除技巧。
目 录
软 件 操 作 说 明
第一章 WinOE3.0 软件的安装与重新安装………………………………………1
1．WinOE3.0 的卸载
2．WinOE3.0 基本系统的安装
3．WinOE3.0 可选软件的安装
4．IIS 安装与卸载
5．IIS 的备份与恢复
6．用户数据库的备份与恢复
第二章 WinOE3.0 软件的仪器状态监测功能………………………………………26
第三章 日常分析……………………………………………………………………30
一、狭缝定位（描迹）
二、标准化(漂移校正)
三、浓度分析
第四章 分析结果的检索和处理……………………………………………………43
一、分析结果的检索
二、分析结果的处理
第五章 用WinXRF3.0 建立类型标准校正程序………………………………………51
1．建立类型标准校正程序
2．建立利用类型标准校正程序的浓度分析任务
3．建立类型标准初始化任务
4．建立类型标准更新任务
5．运行类型标准初始化任务
6．运行类型标准更新任务
7．利用类型标准分析试样
第六章 用WinOE3.0 建立工作曲线………………………………………………………64
一、软件设置
1．设置曲线标样
2．设置漂移校正样
3．建立分析程序
4．建立未知样品分析任务
5．建立漂移校正样初始化任务
6．建立漂移校正样漂移校正任务
7．建立曲线标样测试任务
二、测试标样
8. 测试漂移校正样
9. 测试曲线标样
三、曲线回归
10. 回归工作曲线
四、MVR 中干扰校正的简单应用
第七章 分析结果的远程传送……………………………………………………………96
一、Utilities 部分中的设置
二、Preparation 部分中的设置
三、测试工具的使用
第八章 SPC-Light Option 安装使用说明………………………………………………119
第九章 R&R Report 程序的基本用法………………………………………………………133
日 常 维 护 及 维 修
第十章 仪器的维护保养 ………………………………………………………………136
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