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芯片封装与测试流程解析.ppt

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简介:
本PPT详细介绍了芯片从设计完成到市场应用过程中至关重要的封装与测试环节,包括各种封装技术、测试方法及其重要性。适合对集成电路制造感兴趣的读者学习参考。 引线框架(Lead Frame)在电路连接和芯片固定方面发挥着重要作用;其主要材料为铜,并会在表面镀上银、NiPdAu等金属层以增强性能。L/F的生产过程包括蚀刻法(Etch)与冲压法(Stamp)。由于易氧化,引线框架需要存放在氮气柜中并控制湿度在40%RH以下。除了BGA和CSP封装类型外,其他类型的封装都会采用引线框架;而BGA则使用基板(Substrate)作为替代方案。

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    本PPT详细介绍了芯片从设计完成到市场应用过程中至关重要的封装与测试环节,包括各种封装技术、测试方法及其重要性。适合对集成电路制造感兴趣的读者学习参考。 引线框架(Lead Frame)在电路连接和芯片固定方面发挥着重要作用;其主要材料为铜,并会在表面镀上银、NiPdAu等金属层以增强性能。L/F的生产过程包括蚀刻法(Etch)与冲压法(Stamp)。由于易氧化,引线框架需要存放在氮气柜中并控制湿度在40%RH以下。除了BGA和CSP封装类型外,其他类型的封装都会采用引线框架;而BGA则使用基板(Substrate)作为替代方案。
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