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射频调试硬件经验总结.ppt

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简介:
本PPT涵盖了作者在射频调试领域的硬件实践与理论知识的综合运用,分享了宝贵的实战经验和技巧,旨在为从事相关工作的工程师提供参考和指导。 本段落旨在为射频系统调试的新手提供详细的指导方法,内容从史密斯圆图开始讲解,并详细介绍硬件射频系统的调试过程。文章结构清晰、内容丰富,适合初学者参考学习。

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    本PPT涵盖了作者在射频调试领域的硬件实践与理论知识的综合运用,分享了宝贵的实战经验和技巧,旨在为从事相关工作的工程师提供参考和指导。 本段落旨在为射频系统调试的新手提供详细的指导方法,内容从史密斯圆图开始讲解,并详细介绍硬件射频系统的调试过程。文章结构清晰、内容丰富,适合初学者参考学习。
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    本文档汇集了作者在手机开发过程中积累的软硬件测试经验和技巧,旨在帮助工程师提高测试效率和质量。 从学校毕业后,我开始了我的第一份工作——手机测试。初到公司的时候非常困惑,因为没有任何系统的培训经历,在测试方面一无所知,既不知道应该测试哪些内容也不知道如何开始进行测试。对于那些想要进入手机测试行业的人来说,你们可能会遇到和当初我一样的问题。因此这次讲座主要是分享我在手机测试行业的成长过程,并将自己在实际工作中总结的一些经验介绍给大家。希望今天的讲解能够为刚开始接触手机测试的你提供一些帮助。
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    本资料汇集了多位求职者在FPGA硬件工程师职位面试中的经验和建议,涵盖技术问题、项目案例及常见面试流程,旨在帮助应聘者更好地准备和应对面试挑战。 ### 重要知识点解析 #### 1. NAND与NOR的区别及速度差异原因 - **闪存类型的区别**: - **NAND Flash**:存储单元是串联排列的,这种结构使得NAND Flash在进行大量的数据写入和擦除操作时速度更快。然而,对于较小的数据量(例如几个字节),其擦写速度则相对较慢。 - **NOR Flash**:存储单元是并联排列的,这种结构使得NOR Flash在进行少量数据的擦写操作时速度较快。相比之下,当处理大量数据时,其性能则不如NAND Flash。 - **逻辑门类型的区别**: - **NAND门**:当所有输入均为高电平时,输出为低电平;其余情况下输出为高电平。 - **NOR门**:当所有输入均为低电平时,输出为高电平;其余情况下输出为低电平。 - **速度差异原因**: - 对于NAND Flash和NOR Flash,速度差异主要是由它们不同的存储结构决定的。NAND Flash的串联结构使其更适合大块数据的操作,而NOR Flash的并联结构使其更适用于较小的数据量。 - 对于逻辑门,速度差异通常与具体实现的技术有关,如晶体管的数量和配置等。 #### 2. NAND驱动方式 - **驱动方式**:NAND Flash通常采用页模式读取数据,即一次读取一页数据。此外,NAND Flash还支持随机访问模式,允许直接读取特定地址的数据。 - **控制信号**:NAND Flash的控制信号包括CE(芯片选择)、RB(准备忙状态指示)、ALE(地址锁存使能)和CLE(命令锁存使能)等。 #### 3. 异步信号处理方法 - **异步信号处理**:通常涉及对信号进行采样、延迟和滤波等操作。常见的方法包括使用锁存器、移位寄存器和触发器等组件来处理异步信号。 - **设计注意事项**:确保异步信号不会引起同步电路中的竞争条件或毛刺现象。这通常通过添加适当的滤波电路或使用异步到同步转换技术来实现。 #### 4. 异步FIFO的深度计算 - **异步FIFO**:用于连接两个独立的时钟域,其中的数据传输不受单一时钟控制。 - **深度计算**:异步FIFO的深度取决于最大数据速率和所需的缓冲时间。通常,深度由最高速率下的最大延迟时间决定,并考虑到安全余量。 #### 5. 异步复位同步释放的优缺点 - **优点**: - 减少毛刺风险:通过将异步信号转换为同步信号,可以减少电路中的不确定性和毛刺。 - 提高可靠性:确保所有模块在同一时钟周期内响应复位信号,提高系统整体稳定性。 - **缺点**: - 增加复杂性:引入额外的时序路径和控制逻辑,增加了设计难度。 - 可能引入额外延迟:同步过程可能会增加信号传播时间。 #### 6. FPGA内部组成 - **可编程逻辑块(LUTs)**:用于实现各种逻辑功能。 - **可编程互联资源**:允许逻辑块之间的灵活连接。 - **数字信号处理(DSP)块**:提供专用硬件加速数字信号处理任务。 - **嵌入式存储器块**:用于存储配置数据和应用数据。 #### 7. LE中查找表的实现原理 - **查找表(LUT)**:通常由多个输入端口和一个输出端口组成。每个输入组合对应一个输出值。 - **实现原理**:通过编程配置,LUT可以实现任何二进制函数。通常使用RAM作为底层硬件实现。 #### 8. IOB的主要组成部分 - **IOB(InputOutput Block)**:负责处理芯片外部的输入输出信号。 - **主要组成部分**:包括输入缓冲器、输出缓冲器、三态缓冲器和时钟缓冲器等。 #### 9. 静态、动态时序模拟的优缺点 - **静态时序分析(STA)**: - **优点**:无需实际仿真即可评估时序,速度快。 - **缺点**:可能忽略某些实际电路行为,如竞争冒险。 - **动态时序模拟**: - **优点**:可以捕捉到实际电路行为,精度高。 - **缺点**:运行速度较慢,耗时较长。 #### 10. CDC跨时钟域 - **CDC(Clock Domain Crossing)**:涉及在不同时钟域之间传递数据的设计挑战。 - **解决方案**: - 使用同步器或格雷码编码器等技术来确保数据在时钟边沿正确捕
  • 【EMC篇:工程师面22】
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    本篇文章汇集了作者在EMC公司作为硬件工程师职位的面试经验和心得,分享了宝贵的求职建议和准备策略。 ### 知识点详解 #### 1. EMC指标的组成部分 **EMC(电磁兼容性)** 是衡量电子设备能否在预定的电磁环境中正常工作,并且不会对其他设备造成不可接受干扰的一项重要标准。EMC 指标主要包括以下几个方面: 1. **辐射发射 (Radiated Emissions)**:这一指标关注的是电子设备运行过程中产生的电磁波辐射及其可能造成的干扰程度。例如,无线通信设备、计算机和其他电子产品在工作时会产生一定的电磁辐射;如果超出标准限制,则可能会干扰其他电子设备的正常运行。 2. **传导发射 (Conducted Emissions)**:与辐射发射不同,传导发射关注的是通过电源线和信号线向外传播的电磁干扰。这类干扰通常发生在设备内部电流变化时,例如开关电源在切换瞬间产生的电流波动可能沿电源线传播,并对同一电网上的其他连接设备造成影响。 3. **抗辐射干扰 (Radiated Susceptibility)**:这一指标关注的是电子设备对外部电磁辐射的敏感度。简单来说,就是设备能否在存在电磁辐射环境中正常工作。例如,在接收到较强无线电波时手机是否会出现通话质量下降的问题。 4. **抗传导干扰 (Conducted Susceptibility)**:这一指标关注的是电子设备对通过电源线或信号线传播的电磁干扰抵抗能力。例如,当电网电压出现较大波动时,设备能否正常工作。 综合来看,EMC 指标包括辐射发射、传导发射、抗辐射干扰和抗传导干扰四大部分。这些指标不仅关系到设备本身的工作性能,也关乎整个系统的稳定性和可靠性。 #### 2. 干扰源分类 在电子设计及应用中可能遇到的多种类型干扰源具体如下: 1. **电源线干扰**:作为电路主要供电路径,电源线自身波动或产生的电磁辐射都可对电路造成干扰。 2. **瞬态干扰**:由于开关操作或其他原因导致短时间内高能量电压或电流波动。这类干扰具有突发性和不可预测性。 3. **电磁辐射干扰**:电子设备中的各种元件在工作过程中会产生电磁波,可能影响周边其他设备正常运行。 4. **地线干扰**:因接地系统不稳定或接地电阻过大引起信号完整性受影响的状况。 5. **天气条件变化**:例如雷电等自然现象产生的电磁脉冲会对电子设备造成强烈干扰。 #### 3. 差模干扰消除方法 差模干扰是指信号传输过程中,信号线与地线之间不平衡导致的影响。这种干扰会影响信号质量和稳定性,在高精度系统中尤为重要。常见的消除差模干扰的方法包括: 1. **差分信号传输**:通过将信号分为正负两部分进行传输来抑制差模干扰,并提高抗干扰能力。 2. **使用屏蔽材料**:在信号线附近添加金属屏蔽罩或铜箔,以减少外界对信号的干扰影响。 3. **地线分离**:避免共模干扰的影响,需要将地线与信号线分开接地处理。 4. **滤波器应用**:通过低通滤波器过滤掉高频噪声来消除差模干扰,在输入端和输出端安装合适滤波装置即可实现这一目的。 5. **良好布局设计**:合理规划电路板布线路由,避免信号线与其他大电流或控制线路相互影响。 以上方法综合使用可以有效地减少或消除差模干扰,从而提高电子系统的稳定性和可靠性。
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    本PDF文档详细记录了使用Smith圆图进行阻抗匹配调试的经验和技巧,适用于从基础到高级的用户,涵盖零起点至ADS软件的应用。 本段落主要基于ADS和Smith圆图工具对实际产品的射频匹配电路进行总结和经验分享。