
IGBT加速老化数据集
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简介:
本数据集专注于IGBT器件的老化特性研究,记录了不同条件下IGBT随时间性能变化的数据,为评估和预测IGBT使用寿命提供关键信息。
初步数据来自热过应力的测试,并通过老化和表征系统进行加速老化处理。该数据集包含了六个设备的老化记录,其中一个设备在直流栅极偏置下进行老化,其余五个设备则是在信号栅极偏置平方条件下老化。这些数据记录了多个变量,在某些情况下还包括高速测量得到的栅极电压、集电极-发射极电压和集电极电流的数据。该数据集由NASA Ames的Prognostics CoE提供。
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