
陶瓷基复合材料的太赫兹无损检测技术
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简介:
本研究聚焦于利用太赫兹波对陶瓷基复合材料进行无损检测的技术探索与应用,旨在提高该领域的检测精度和效率。
本段落提出了一种新的光谱成像方法,在时频域采用多模式技术对四种含有缺陷的陶瓷基复合材料(CMC)样本进行了无损检测,并建立了这些样本的太赫兹图像库。同时,引入了五个用于综合评价图像质量的客观指标,通过融合处理选择出了较佳的质量图像。利用尺度不变特征变换与K均值聚类技术实现了对所选太赫兹图像的有效检索。实验结果显示,该方法能够有效地检测出CMC不同位置处的各种宽度缺陷。
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