
MBIST论文集合.zip
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简介:
本资源为《MBIST论文集合》,包含多篇关于内建自测试(MBIST)技术的研究文献,涵盖设计、验证与应用等多个方面。适合集成电路领域科研人员参考学习。
包括SRAM存储阵列的内建自测试电路设计与实现、一种基于Scanchain的BlockRAM的MBIST设计方法、SOC中MBIST结构的设计与实现、一种可编程MBIST结构的设计与实现、片上SRAM内建自测试的实现方法等文献。此外,还有关于嵌入式SRAM的可测性设计研究(作者:徐歆)、高性能Memory_BIST设计实例(作者:李文琦)、基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究(作者:姚俊)、存储器内建自测试及内核功能测试研究(作者:范志翔)以及嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究(作者:王晓琴)。此外,还涉及到了嵌入式memory内建自测试算法的研究(任爱玲),并探讨了存储器内建自测的设计与分析(杨修涛)、一款通用CPU的存储器内建自测试设计(何蓉晖)等主题。
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