
内存内置自检(MBIST)的实现与验证——调查研究报告
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简介:
本报告深入探讨了内存内置自检(MBIST)技术的实现方法及其验证流程,旨在为集成电路设计中的内存测试提供高效解决方案。
本段落探讨了内存内置自检(MBIST)的实施与验证策略。作为一种有效的测试解决方案,MBIST能够应对大规模内存的挑战。在任何系统级芯片设计周期中,功能性MBIST的验证都是必不可少的一部分,因为它帮助设计师预先识别和解决可能存在的问题。此外,MBIST具有简便的测试程序、多样的算法选择以及降低测试成本的优势,并支持用户自定义算法的应用于内存上进行测试。
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