半导体ATE自动化测试行业研究报告

简介：
本报告深入分析了全球及中国半导体ATE（Automatic Test Equipment）自动化测试行业的现状、趋势与前景。涵盖了市场规模、竞争格局和技术创新等方面的内容，为业内人士提供详实的数据支持和战略建议。 半导体测试是设计与生产过程中的关键环节。它通过测量半导体的输出响应并与预期输出进行比较来确定或评估集成电路的功能和性能，主要涉及电学参数测试。每个芯片通常需要经历两类测试： 一是参数测试，这种测试用于确认芯片管脚是否符合各种上升时间、下降时间、建立时间和保持时间以及高低电压阈值和电流规范的要求。它包括直流（DC）参数测试与交流（AC）参数测试。其中，直流参数测试涵盖短路检测、开路检查及最大电流试验等项目；而交流参数测试则包含传输延迟评估、建立时间和保持时间验证、功能速度测量等内容。这些测试通常都具有工艺相关性。 CMOS输出电压的测定是此类测试中的一个重要方面。