简单介绍提升DFT设计测试覆盖率的策略

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简介：
本文档探讨了提高DFT（可测试性设计）中测试覆盖率的有效策略。通过分析现有方法的不足，提出了一系列实用建议和技术改进措施，旨在优化集成电路的测试效率和质量。随着电子电路集成度的提升，其复杂性也在不断增加，完成一个电路测试所需的人力和时间也变得越来越大。为了节省测试时间，在采用先进测试方法的同时，提高设计本身的可测试性也是一个重要途径。可测试性主要包括两个方面：一是可控制性，即能否方便地施加测试向量以检测出目标故障或缺陷；二是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被获取。在集成电路进入超大规模集成时代后，为了提高芯片的可测试性能（Design for Test,简称DFT），它已经成为电路和芯片设计中的一个关键环节。通过在原始设计中插入各种用于提升可测试性的机制，可以实现这一目标。

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简单介绍提升DFT设计测试覆盖率的策略

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本文档探讨了提高DFT（可测试性设计）中测试覆盖率的有效策略。通过分析现有方法的不足，提出了一系列实用建议和技术改进措施，旨在优化集成电路的测试效率和质量。随着电子电路集成度的提升，其复杂性也在不断增加，完成一个电路测试所需的人力和时间也变得越来越大。为了节省测试时间，在采用先进测试方法的同时，提高设计本身的可测试性也是一个重要途径。可测试性主要包括两个方面：一是可控制性，即能否方便地施加测试向量以检测出目标故障或缺陷；二是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被获取。在集成电路进入超大规模集成时代后，为了提高芯片的可测试性能（Design for Test,简称DFT），它已经成为电路和芯片设计中的一个关键环节。通过在原始设计中插入各种用于提升可测试性的机制，可以实现这一目标。

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