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STDF V4 2007 Spec

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简介：
STDF V4 2007 Spec是半导体测试数据格式(STDF)规范版本，用于半导体制造行业中的测试数据交换与存储，发布于2007年。 本段落介绍了STDF V4 - 2007规范，即标准测试数据格式。该规范包括前言和目录，并旨在为测试数据的交换提供一种标准化格式。适用于半导体制造业，可用于收集、存储及分析测试数据。文章主要阐述了此规范的内容及其应用范围。

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  • STDF V4 2007 Spec
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    STDF V4 2007 Spec是半导体测试数据格式(STDF)规范版本，用于半导体制造行业中的测试数据交换与存储，发布于2007年。 本段落介绍了STDF V4 - 2007规范，即标准测试数据格式。该规范包括前言和目录，并旨在为测试数据的交换提供一种标准化格式。适用于半导体制造业，可用于收集、存储及分析测试数据。文章主要阐述了此规范的内容及其应用范围。
     
  • STDF-V4规范说明
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    STDF-V4规范说明旨在阐述半导体测试数据格式（STDF）V4版本的具体标准与规则，为芯片制造企业中测试数据的生成、处理和分析提供统一的技术指导。 STDF（Standard Test Data Format，标准测试数据格式）是一种用于不同测试系统之间交换测试结果的通用格式，旨在解决数据不兼容问题。 介绍 STDF是由Teradyne公司开发的一种测试结果数据交换格式，为了解决不同制造商和同一制造商产品线之间的ATE（自动测试设备）系统的测试结果数据互操作性不足的问题。随着ATE行业的成熟，许多供应商提供网络系统来增强其自身的测试功能，并帮助客户从他们的投资中获得更多价值。 STDF设计目标 STDF的设计目的是为了在不同的测试系统之间高效、可靠地交换和共享测试结果数据。具体的目标包括： - 提高数据的互操作性 - 增强数据的可读性和理解度 - 降低存储成本并优化传输效率 - 确保安全与可靠性 STDF记录结构 每个STDF文件由多个不同类型的记录组成，这些记录包含了测试结果的具体信息。每条记录都包含一个头部（包括类型、长度和校验码等）、数据主体以及可能的子类型。 STDF记录类型 在STDF中定义了多种不同的记录类型来存储不同类型的数据： - 文件属性记录 (FAR) - 审核跟踪记录 (ATR) - 主信息记录 (MIR) 和主结果记录 (MRR) - 部分计数器和硬件/软件Bin等 - 测试过程中的各种状态更新如测试概要、参数测试及功能测试等 STDF文件名与顺序规则 STDF文件通常以特定的格式命名，例如使用.stdf作为扩展名。这些文件按照其类型（比如结果数据或配置信息）和记录类型的逻辑进行排序。 针脚映射记录的应用 Pin Mapping Records在描述测试点之间的对应关系方面发挥了关键作用，并且包括了针对map、组以及列表等不同形式的针脚映射定义。 STDF V4与V3的区别 作为V3版本的一个改进，STDF V4引入了一些新的数据类型和记录结构以提升灵活性及效率。这些更改使得新版标准能够更好地适应ATE技术的发展趋势，并提供了更多功能来满足现代测试系统的需要。 术语表 在讨论STDF时会用到一些特定的词汇如ATE、STDF本身及其相关的各种记录类型，了解它们是理解这一规范的关键所在。
     
  • OT-Protocol-Spec-V4-1.pdf
    优质
    OT-Protocol-Spec-V4-1.pdf是关于OT协议版本4.1的技术文档，详细描述了协议规范、更新内容及实现指南。 为了满足低成本连接房间控制器与锅炉的需求，开发了一种新的标准——开放热器（OT协议），采用简单的点对点方式实现，并且入门级的成本非常低。
     
  • STDF库：STDF解析工具库
    优质
    简介：STDF库是一款专业的STDF文件解析工具库，提供高效便捷的数据处理功能，适用于半导体测试数据的分析与管理。 Semi-ATE的STDF（标准测试数据格式）库并非旨在成为万能解决方案！人们经常寻找“最快”的STDF解析器；如果您这样做，并最终碰壁的话，可能需要重新考虑您的选择。 编写一个快速解析器通常意味着要放弃大量检查和校正才能真正实现速度提升。并且可能会忽略一些信息，这些信息在后续分析中被证明是至关重要的。然而，在现实生活中，STDF文件往往不够完善，这意味着即使最快的解析器也可能无法满足预期的工作需求！ 即便您对某个特定的ATE系统进行了调整以适应环境中的数据交互，这仍然不能解决所有问题！总而言之，在需要与数据进行互动时再去解析STDF文件已经太迟了……这样做会使您的工作变得非常低效（更不用说在现代技术环境中显得过时）。 一个优秀的解析器应该是用高级语言编写的，并且要执行大量的检查和校正，同时不会忽略任何信息。
     
  • STDF Extractor
    优质
    STDF Extractor是一款专为半导体测试数据处理设计的软件工具。它能够高效解析和提取标准测试数据格式（STDF）文件中的关键信息，便于质量控制与数据分析。 STDF Viewer可以将数据从STDF格式提取到Excel中。
     
  • STDF文件转换为CSV文件，STDF转CSV
    优质
    本工具用于将半导体测试数据格式（STDF）文件高效转换成CSV文件，便于数据分析与处理。提供简便快捷的数据导出方案，适用于各类电子行业和研究机构。 本程序用于全量解析STDF文件并转换为CSV格式，适用于64位Windows操作系统（如需Linux版本，请通过邮件联系）。 版本：0.0.9（2018年9月13日） 性能表现：每秒处理速度在17MB到33MB之间（具体取决于解析的二进制文件大小及电脑CPU性能）。支持解析25种不同类型的STDF数据。使用步骤如下： 第一步，打开配置文件stdparser.json； 第二步，在该配置文件中填写待解析的STDF文件绝对路径； 第三步，保存并退出配置文件； 第四步，双击运行stdfparser.exe程序； 第五步，在ret文件夹内查看解析结果。 此外，请注意：在未修改配置文件中的待解析文件路径前，您可以直接通过双击程序来测试内置的一个STDF样本段落件。如果您需要生成test_limits、wafer_map或raw_data等特定数据列表，则可以使用在线工具进行操作（具体网址请自行查找）。若有任何问题反馈欢迎邮件联系开发者。
     
  • V4及V4升级JAR包(V4-24)
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    本资源包含V4版本及其更新版JAR包（V4-24），适用于开发者进行功能优化和性能提升，助力项目快速迭代与部署。 Android Support V4 包是为了支持 Android 1.6（API 版本为 4）及更高版本而设计的。从 android-support-v4-24.2.0 开始，V4包所支持的最低版本是 Android 2.3 (即 API Level 9)。该支持库使得在旧版Android平台上运行的应用能够使用新平台推出的功能。如果你发现 v4jar 包丢失了或需要升级 jar 包，请考虑下载更新后的版本。
     
  • Onfi Spec.7z
    优质
    Onfi Spec.7z 是一个压缩文件，内含Onfi项目的详细规范和说明文档。适合开发者和技术人员查阅以获取项目设计与实现的相关信息。 NAND ONFI 协议是一种用于 NAND 闪存设备的开放标准接口协议。它定义了 NAND 设备与主机系统之间的通信方式，使得不同制造商生产的 NAND 芯片可以兼容同一套控制器硬件或软件驱动程序。ONFI 协议简化了 NAND 存储产品的开发和应用过程，促进了存储技术的发展和普及。