
基于FPGA的薄膜缺陷检测
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简介:
本项目旨在开发一种基于FPGA技术的高效能系统,专门用于识别和分类生产线上薄膜材料的各种缺陷。通过优化算法与硬件协同设计,实现快速、精准的实时检测,从而提高产品质量控制效率。
针对当前工业薄膜生产过程中幅宽增大及速度加快的问题,本段落提出了一种基于FPGA的快速薄膜瑕疵检测系统方案。该系统的操作流程首先利用相关系数法准确确定薄膜灰度图像的最小重复周期,并据此选取两个用于比对的图像块来生成差值图像;随后将此差值图进行二值化处理并应用形态学方法进一步优化,最终通过设定面积约束条件识别出瑕疵的具体位置。该方案充分利用了FPGA在并行计算中的优势,从而显著提升了图像处理的速度和效率。
实验结果表明,在300米/分钟的生产线速度下,此系统能够有效检测到仅10个像素大小的薄膜瑕疵,并且满足实时瑕疵监测的实际需求,具有良好的应用前景。
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