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改良版Yolov5在花色布匹瑕疵检测中的应用方法

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简介:
本研究探讨了改进型YOLOv5算法在花色布匹瑕疵检测中的应用效果,通过优化模型结构与参数,显著提升了瑕疵识别精度和效率。 花色布匹的瑕疵检测是纺织工业中的关键环节,对于提高生产效率具有重要意义。针对这一过程中常见的小尺寸瑕疵、不均匀分布以及部分长宽比极端且与背景难以区分的问题,我们提出了一种基于YOLOv5网络改进的算法模型DD-YOLOv5。该模型在骨干网络中采用了上下文变换器网络(CoTNet),增强了视觉表示能力;颈部网络引入了卷积注意力模块(CBAM),帮助网络识别关键信息;此外,在检测环节增加了高分辨率检测头,以提高对小目标的识别精度,并使用α-IoU替代原有的G-IoU方法。实验结果表明,改进后的算法在花色布匹瑕疵数据集上的平均精度均值(mAP)相较于原生算法提升了8.1%,同时将检测速度提升至73.6 Hz。

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客服
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  • Yolov5
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    本研究探讨了改进型YOLOv5算法在花色布匹瑕疵检测中的应用效果,通过优化模型结构与参数,显著提升了瑕疵识别精度和效率。 花色布匹的瑕疵检测是纺织工业中的关键环节,对于提高生产效率具有重要意义。针对这一过程中常见的小尺寸瑕疵、不均匀分布以及部分长宽比极端且与背景难以区分的问题,我们提出了一种基于YOLOv5网络改进的算法模型DD-YOLOv5。该模型在骨干网络中采用了上下文变换器网络(CoTNet),增强了视觉表示能力;颈部网络引入了卷积注意力模块(CBAM),帮助网络识别关键信息;此外,在检测环节增加了高分辨率检测头,以提高对小目标的识别精度,并使用α-IoU替代原有的G-IoU方法。实验结果表明,改进后的算法在花色布匹瑕疵数据集上的平均精度均值(mAP)相较于原生算法提升了8.1%,同时将检测速度提升至73.6 Hz。
  • 基于ResNet.zip
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    本项目提出了一种基于ResNet架构的布匹瑕疵检测算法。通过优化神经网络模型,提升了瑕疵识别准确率和效率,适用于工业化大规模应用。 基于ResNet的布匹疵点检测算法利用了深度学习中的残差网络结构来提高瑕疵识别的准确率与效率。这种方法通过改进特征提取过程,在大量图像数据上训练模型,使其能够自动辨别并标记出布料上的各种缺陷和异常情况,从而有效提升了纺织品质量控制流程的技术水平。
  • 目标数据集
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    该数据集专为布匹生产中的瑕疵自动检测设计,包含大量标记清晰的布料图像样本,涵盖多种常见缺陷类型,旨在提升机器视觉在纺织品质量控制领域的应用效率与精度。 目标检测YOLO布匹瑕疵数据集属于计算机视觉领域的一个应用方向。
  • 纹理程序.zip
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    本项目为一款用于自动识别和分类纺织品表面瑕疵的软件工具。通过图像处理技术,能够高效准确地检测出各种类型的布料缺陷,提高生产效率与产品质量。 首先构建Gabor滤波器和Log-Gabor滤波器对布匹图像进行纹理特征提取。通过对比发现,数据库中的布匹图像更适合使用Gabor滤波器来提取其纹理特性;而Log-Gabor则适用于更复杂的图像处理任务,例如人脸或虹膜识别等场景。 接下来是对经过滤波后的图像实施增强操作。考虑到Gabor滤波器的强大功能,在此阶段我们采用直方图均衡化和均值滤波这两种相对简单的技术对布匹进行进一步优化,使得缺陷区域更加明显,并且能够通过肉眼直接观察到这些瑕疵。 最终步骤是应用基于阈值的二值图像分割方法来标记出具体的瑕疵区域。在整个过程中,使用GUI图形界面不仅方便了操作流程的设计与实现,还为最后呈现出直观易懂的结果提供了有力支持。
  • 】利MATLAB GUI与Gabor滤波进行【附带Matlab源码 407期】.md
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    本文详细介绍了如何使用MATLAB GUI结合Gabor滤波技术来实现高效的布匹瑕疵检测,并提供了相关的MATLAB源代码。适合对图像处理和质量控制感兴趣的读者研究与实践。 武动乾坤上传的Matlab资料均包含对应的代码,并且这些代码均可运行并已亲测可用,非常适合初学者。 1、压缩包内容: 主函数:main.m; 其他m文件(调用函数);无需单独运行。 附带程序运行结果效果图。 2、所需软件版本 使用MATLAB 2019b。如遇到错误,请根据提示进行修改或寻求帮助。 3、操作步骤如下: 第一步,将所有文件放置在Matlab的当前工作目录中; 第二步,双击打开main.m文件; 第三步,点击运行直至程序完成并输出结果。 4、仿真咨询 若您需要更多服务(如完整代码提供、期刊复现或定制开发等),请与博主联系。 具体包括: - 博客资源中的完整代码提供 - 期刊文献的再现工作 - Matlab程序个性化设计 - 科研项目合作 涉及领域有图像识别:表盘识别、车道线检测、车牌识别、答题卡解析、电器分类,跌倒监测,动物辨识,发票扫描,服装类型分析,汉字读取,交通信号灯辨认,火灾预警系统, 疾病诊断与分型, 交通标志牌的自动检测及分类, 口罩佩戴状况检查, 裂缝评估和修复建议生成器等。此外还有目标跟踪、疲劳监测、身份证信息提取、人民币钞票识别,数字字母读取功能,手势解析系统,树叶种类鉴定工具,水果品质分级软件,条形码扫描仪设计与实现方案以及瑕疵检测算法开发项目, 芯片质量控制技术研究和指纹认证解决方案等。
  • 优质
    瑕疵检测算法是一种利用计算机视觉和机器学习技术自动识别产品表面缺陷的方法,广泛应用于制造业质量控制中,以提高效率和精度。 缺陷检测算法用于识别图像中的黑点、亮点及黑色团块等瑕疵。
  • 【图像】利Gabor滤波器Matlab源码.md
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    本Markdown文档提供了一套基于MATLAB的布匹瑕疵检测系统代码,采用Gabor滤波器提取特征,实现自动化瑕疵识别与定位。 【图像检测】基于Gabor滤波器的布匹瑕疵检测Matlab源码 本段落档提供了使用Gabor滤波器进行布匹瑕疵检测的详细步骤及Matlab代码示例,旨在帮助读者理解和实现这一技术方法。通过应用特定方向和尺度下的Gabor滤波器,可以有效地提取图像中的纹理特征,并识别出布匹上的各种缺陷或异常区域。 该源码适用于对纺织品质量控制感兴趣的科研人员、工程师以及相关领域的学生进行实验研究与学习参考。
  • test.rar_MATLAB 瓶盖_缺陷__瓶盖_瓶盖
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    本资源提供MATLAB程序用于检测瓶盖上的各种缺陷和瑕疵,旨在帮助提高产品质量控制的效率和准确性。 一个基于MATLAB的简单瓶盖瑕疵检测系统。
  • Faster R-CNN嘴部
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    本研究提出了一种基于改良版Faster R-CNN算法的嘴部检测方法,提升了目标定位精度与效率,在多项指标上超越了传统技术。 在通过嘴部进行人机交互的场景下,外界光线变化、小目标检测复杂性以及不同方法不通用等因素给不同环境下的嘴部识别带来了很大挑战。本段落以人脸图像为数据源,在此基础上提出了一种基于改进Faster R-CNN的人脸嘴部识别算法。 该方法在保持Faster R-CNN框架的基础上融合了多尺度特征图进行检测,首先将同一卷积块中不同层输出的特征图结合在一起,然后对不同的卷积块执行按元素求和操作。通过这些处理,在得到高分辨率的表达能力更强的特征后,再用上采样技术进一步提高小目标(如嘴部)的识别性能。 在训练过程中采用了多尺度训练,并增加了锚点的数量以增强网络检测不同尺寸目标的能力。实验结果显示,改进后的算法相比原始Faster R-CNN,在对嘴部进行检测时准确率提高了8%,并且对于各种环境变化具有更强的适应性。
  • 硅片
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    硅片瑕疵检测算法是一种利用计算机视觉和机器学习技术自动识别太阳能硅片表面缺陷的方法,旨在提高生产效率与产品质量。 在IT行业中,硅片缺陷检测算法是半导体制造过程中的关键环节。由于集成电路的基础材料为硅片,其质量直接影响芯片的性能与可靠性。随着科技的进步,对硅片缺陷检测的需求日益增加。 Silico Defect Detect标签表明压缩包可能包含一个专门用于识别和定位硅片表面缺陷的算法工具或软件库。该压缩包名为SiliconWaferDefectDetection-master,很可能是一个项目源代码仓库,内含完整的工程结构、数据集以及相关文档等资源。 接下来我们深入探讨硅片缺陷检测的相关知识: 1. **缺陷检测的意义**:在制造过程中,硅片表面可能会出现各种类型的瑕疵(如划痕、颗粒或晶界异常),这些不良因素可能导致电路短路问题或者降低芯片性能。因此,在生产流程早期阶段识别并处理这些问题对于提高产品良率和减少成本具有重要意义。 2. **算法原理**:该类检测通常采用图像处理技术和机器学习方法相结合的方式进行实现。通过使用高分辨率显微镜或扫描电子显微镜获取硅片的详细图片;然后利用各种技术手段(如灰度化、二值化等)对这些原始数据做预处理,以突出缺陷特征并减少噪声干扰;最后借助支持向量机(SVM)或者深度神经网络(DNN)模型来自动分类和定位潜在问题区域。 3. **图像预处理**:包括但不限于将彩色图片转换为灰度图、应用滤波器去除杂讯以及进行边缘检测等步骤,目的是使缺陷特征更加明显以便于后续分析工作开展。 4. **特征提取**:常用的有基于形状的特征(如Canny算子)、纹理信息(例如Haralick特性)和统计属性(比如直方图)。这些方法可以帮助算法更好地理解图像内容并从中识别出异常情况。 5. **机器学习模型应用**:支持向量机(SVM)在处理小规模数据集时表现优异;而深度卷积神经网络(CNN)则适用于大规模训练任务,能够自动从大量样本中提取有效特征,并实现高精度的缺陷检测效果。 6. **数据准备与评估标准**:压缩包中的图像资料可能包括正常及存在瑕疵情况下的硅片图片。这些素材用于模型的学习过程以及后续性能测试阶段。此外,在衡量算法表现时会参考诸如准确率、召回值和F1分数等关键指标,并且还需要确保整个流程能在实际生产环境中高效运行。 7. **优化策略与应用场景**:为提升检测效率及准确性,可以采取多尺度分析、在线学习或迁移学习等方式进行改进。此外,在半导体制造过程中该技术可用于质量控制环节以及生产线监控等多个方面。 综上所述,硅片缺陷检测算法是一项集成了图像处理技巧、机器学习技术和先进工艺流程的综合解决方案,对于提高整个半导体行业的技术水平具有重要作用。通过持续的研究和优化这项核心技术,我们能够为集成电路产品的生产和研发提供更强大的技术支持。