TVS二极管的失效分析

简介：
TVS二极管的失效分析旨在探究该器件在不同工作条件下可能出现的各种故障模式及其机理，以提升其可靠性和性能。 常用电路保护器件的主要失效模式为短路现象，瞬变电压抑制器（TVS）也不例外。一旦TVS发生短路故障，它释放出的高能量可能会损坏被保护的电子设备。这既是对生产厂家也对使用方都不希望看到的情况。通过对TVS进行筛选以及分析其在实际应用中出现短路失效的产品解剖观察来获取微观形貌特征，并结合器件本身的结构、材料特性、制造工艺和工作原理，同时考虑筛选或使用过程中所受到的应力等因素，采用理论研究与实验验证相结合的方法对导致TVS短路故障的原因进行了深入分析。研究表明引发TVS短路故障的主要内在质量因素包括粘结界面空洞、台面缺陷、表面强耗尽层或者强积累层的存在、芯片裂纹以及杂质分布不均等；而使用过程中则可能由于过电应力、高温环境或长时间运行导致的损耗等原因造成短路失效。