
晶圆图分类,采用MFE和CNN方法。
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简介:
晶圆图模式分类:首先,WM-811K数据集通过从46393个生产批次中收集了811457个晶圆图来构建。其中,172950个晶圆图得到了领域专家的详细标注。数据集涵盖了9种不同的缺陷模式类别,包括中心缺陷、甜甜圈缺陷、边缘环缺陷、边缘局部缺陷、局部缺陷、随机缺陷、近满缺陷以及划痕等。此外,为了提高数据质量,删除了四个包含少于100个裸片且异常的晶圆图(不属于无图案类),以排除潜在的干扰因素。其次,采用手动特征提取方法: 1)密度特征:晶圆图被划分为13个区域,其中4个位于边缘区域,9个位于中心区域。每个区域的缺陷密度都被作为独立的密度特征进行提取。总共提取了13个密度特征;2)几何特征:利用噪声过滤技术识别出显著区域,基于最大面积确定这些区域。随后,提取了六个几何特征,包括周长、面积、短轴长度、长轴长度、坚固性和偏心率。总共提取了6个几何特征;3)功能特征:通过Radon变换创建了晶圆图的二维表示形式,该表示形式是通过对一系列投影进行处理得到的。为了保证图像的均匀性,对Radon变换的结果进行了三次插值处理以获得相同数量的行。然后计算每行的平均值和标准差,并根据这些统计信息提取40个功能特征,最终得到总共59个功能特征。
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