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半导体晶圆图谱缺陷数据集 VOC+YOLO 格式 8 类 11720 张

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简介:
半导体晶圆图谱缺陷检测数据集采用VOC与YOLO双重格式进行整合,共计包含11,720张图片,涵盖8个类别。

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客服
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  • VOC+YOLO 8 11720
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    半导体晶圆图谱缺陷检测数据集采用VOC与YOLO双重格式进行整合,共计包含11,720张图片,涵盖8个类别。
  • 焊接件表面VOC+YOLO229210
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    焊接件表面缺陷检测是工业领域中不可或缺的质量控制环节。随着计算机视觉技术的快速发展,特别是深度学习在图像识别领域的广泛应用,目标检测技术已成为实现自动化检测 welding 接口缺陷的有效手段。基于此背景需求,本数据集应运而生。该数据集主要采用 Pascal VOC 与 YOLO 两种标准的标注格式,包含共计2292张 jpg 格式的图片。每张图片均经过精确标注,其中标注内容涵盖10种典型焊接件表面缺陷类型。每个图像不仅配有相应的 annotation 文件,具体而言,VOC 格式数据集提供2292个 xml 文件,YOLO 格式则提供2292个 txt 文件。这些 annotation 文件详细记录了缺陷位置及其类别信息。整个数据集总计包含3563个 bounding box 标记,覆盖10种不同缺陷类型。具体分布如下:折痕(crease)74个、月牙形间隙(crescent_gap)265个、夹杂(inclusion)347个、油斑(oil_spot)569个、冲孔(punching)329个、轧制坑(rolled_pit)85个、丝痕(silk_spot)884个、腰部折皱(waist_folding)143个、水斑(water_spot)354个以及焊缝线(welding_line)513个。在注释数据集的过程中,研究者主要依赖 labelImg 这一通用图像标注工具,通过绘制矩形框并分配类别标签完成标注操作,并将相关信息存储至相应 annotation 文件中。具体步骤包括:首先打开图片,随后在图像上绘制相应的矩形框,并为每个框分配具体的类别标签。保存标注信息到 xml 或 txt 文件。需要注意的是,该数据集仅提供经过精准标注的图片资源,无法保证训练出模型后达到的高度精度。因此,在实际应用中,研究者需自行完成模型训练并对其效果负责。尽管如此,本数据集所包含的高质量标注图片依然具备极高的实用价值。它不仅能够帮助相关领域的研究者和工程师节省大量标注时间和成本,更能加速目标检测算法的发展进程。更重要的是,该数据集为计算机视觉与深度学习技术在工业缺陷检测中的应用提供了强有力的技术支撑。通过本数据集,研究人员可更高效地训练和测试目标检测算法,并进一步推动相关技术在工业领域的深入发展和创新。对于那些致力于提升生产效率和产品质量的企业而言,该数据集同样展现出显著的应用潜力。
  • 轮毂检测VOC+YOLO,含1445片,7个别).zip
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    本数据集包含1445张图片及对应的标注文件,适用于轮毂缺陷检测任务。采用VOC和YOLO两种格式,涵盖7种类别,方便用户根据需求选择使用。 样本图展示如下: 文件存放于服务器,请务必在电脑端查看资源详情后再进行下载。 数据集格式为Pascal VOC与YOLO格式(不包含分割路径的txt文件,仅包括jpg图片及其对应的VOC格式xml文件和yolo格式txt文件)。 图片数量:1445张 标注数量(xml):1445个 标注数量(txt):1445个 标注类别总数为7类: - Blue hole - Brake Thermal Cracks - Contact Fatigue Cracks - Out Of Roundness - Peeling - Rollerpile - flat
  • 3D打印检测VOC+YOLO)58643别.docx
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    该数据集名称为\3D打印缺陷检测数据集\,采用标准的VOC+YOLO标注格式,共计5864张图像,划分为三个主要类别,主要用于对3D打印中的缺陷进行视觉检测。数据集结构紧凑,由1/3的原生图像和2/3的比例用于增强图像组成,所有图像都配备了丰富的标注信息。该系统使用labelImg工具进行标注操作,具体类别涵盖\spaghetti\、\stringing\和\zits\三种类型,分别代表3D打印过程中的各类缺陷类型。从数据格式上看,该集合严格按照Pascal VOC标准和YOLO主流格式构建,其中包含5864张高质量的JPG图片,每张图片都配有对应的VOC格式XML文件以及YOLO格式的txt标注文件。XML文件不仅包含了图像的基本信息,还详细标注了缺陷区域。Yolo格式的txt文件则提供了与缺陷框相对应的坐标信息和类别标签。整个标注过程力求精确反映缺陷区域的位置特征。值得注意的是,在数据集的分类设置中,YOLO格式下的类别顺序并不遵循VOC的标准,而是以项目根目录下classes.txt中的列表为准。这种设计可能旨在兼顾不同标注工具的兼容性与转换需求,为研究者提供了灵活的切换接口。对于数据集的用户而言,类别的编号对应关系需通过项目配置文件来明确。此外,本集合明确不提供任何关于模型训练效果或权重参数精度的保证信息。这意味着,在实际使用该数据集进行模型训练时,参与者需要自行评估模型性能并负责结果解读。整个数据集系统为3D打印缺陷检测领域提供了大量高质量、标注详尽的图片资源,并以VOC和YOLO两种主流标注格式支持研究者与开发者开展相关工作。这一资源库不仅在图像识别领域具有重要应用价值,更将在机器学习技术的发展中发挥广泛前景。
  • 变电站检测(VOC+YOLO)含8307片,17个别.7z
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    本数据集包含8307张图像及标注信息,涵盖17类变电站设备缺陷,适用于目标检测任务,采用VOC和YOLO双格式存储。压缩文件后缀为.7z。 数据集格式采用Pascal VOC与YOLO两种格式,并且不含分割路径的txt文件,仅包含jpg图片以及对应的VOC格式xml文件和yolo格式txt文件。 - 图片数量(jpg文件个数):8307 - 标注数量(xml文件个数):8307 - 标注数量(txt文件个数):8307 - 标注类别总数为17,具体名称如下: - bj_bpmh - bj_bpps - bj_wkps - bjdsyc - gbps - hxq_gjbs - hxq_gjtps - jyz_pl - kgg_ybh - sly_dmyw - wcaqm - wcgz - xmbhyc - xy - yw_gkxfw - yw_nc - ywzt_yfyc
  • 混合模
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    混合模式晶圆图缺陷数据集是由多种成像技术获取的集成电路制造过程中产生的晶圆图像与对应标注构成的数据集合,旨在促进机器学习算法对复杂半导体缺陷类型的自动识别和分类。 晶圆图的缺陷识别对于确定晶圆缺陷成因至关重要,尤其是在处理混合模式缺陷的情况下。我们在某家晶圆制造厂收集了大量的晶圆图数据,这些图像通过测试每个晶粒的电学性能而获得。然而,实际采集到的各种类型的晶圆图在数量上存在较大差异,为了使各类型的数据保持平衡,我们利用对抗生成网络(GAN)生成了部分新的晶圆图。最终构建了一个包含约38000张混合模式缺陷数据集的图像库,用于识别混合模式缺陷并支持工艺改进和成因研究。
  • 智慧工厂机械铸件检测VOC+YOLO,含4270片,8别).zip
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    本数据集包含4270张图片和8种类别的标签,采用VOC与YOLO格式标注,专为智慧工厂机械铸件缺陷检测设计。 样本图展示如下: 文件存储于服务器,请务必在电脑端查看资源预览或详情后再进行下载。 数据集格式:Pascal VOC格式+YOLO格式(不包含分割路径的txt文件,仅包括jpg图片及对应的VOC格式xml文件和yolo格式txt文件) 图片数量(jpg文件个数):4270 标注数量(xml文件个数):4270 标注数量(txt文件个数):4270 标注类别总数:8 标注类别名称包括: - Casting_burr - Polished_casting - burr - crack - pit - scratch - strain - unpolished_casting
  • 下水管道检测(含7标签,1717片,YOLO+VOC).zip
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    本数据集包含1717张图像,涵盖七种类别标签,旨在用于训练和评估下水管道缺陷检测模型。以YOLO及VOC格式提供,便于研究者应用与开发。 数据集格式:VOC格式+YOLO格式 压缩包内包含三个文件夹: 1. JPEGImages 文件夹存储了 1717 张 JPG 图片。 2. Annotations 文件夹包含了与图片对应的 1717 个 XML 标注文件。 3. labels 文件夹有用于 YOLO 格式的 1717 个 TXT 文本标注文件。 标签种类共有七种,分别为:chuanru(穿入)、cuokou(错口)、duiji(堆积)、laji(垃圾)、liefeng(裂缝)、nitu(泥土)和 shugen(树根)。每个类别对应的框数如下: - chuanru 框数 = 328 - cuokou 框数 = 200 - duiji 框数 = 884 - laji 框数 = 610 - liefeng 框数 = 836 - nitu 框数 = 187 - shugen 框数 = 356 总框数量为:3401。 图片的清晰度较高,且未经过数据增强处理。标签形状采用矩形框形式以实现目标检测和识别任务。 重要说明: 暂无其他特别需要声明的内容。 请注意,本数据集不保证用于训练模型或生成权重文件时的具体精度表现,仅提供准确合理的标注信息。
  • WM-811K样分_web
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    简介:WM-811K半导体晶圆图样分类_web数据集包含大量用于训练和测试半导体制造过程中晶圆图像识别算法的样本,助力于提高生产效率与产品质量。 WM-811K是半导体数据集,在半导体制造过程中存在许多Craft.io问题。CP良率、WAT(晶圆接受测试)以及Particle的晶圆图模式对于工程师来说是非常有用的线索,但如何在无需人工操作的情况下将这些图案分类到服务器组中是一个难题。已经有大量研究论文探讨了这个问题,并且这里我们将展示应用深度学习方法的结果。 数据集中包含811457张图像,其中只有172950张带有手动标签的图像(总共有九个类别:0、1、2、3、4、5、6、7和8)。在这些带标签的图像中,标记为“无图案”的占到了总数的85.2%。其余模式占比为14.8%,包括中心位置4294(占比2.5%)、甜甜圈形状555(占比0.3%)、边缘位置5189(占比3.0%)和边环形图案9680(占比5.6%)。