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用光电二极管列阵测干涉条纹周期的精度分析

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简介:
研究了基于1024单元光电二极管阵列的干涉条纹周期测量方法时,探讨了采样密度与测量精度之间的关系.采用256位的量化技术,发现当每个干涉条纹的采样点数在10至30附近变化时,能达到最佳测量精度,其值可超过2×10~(-5).进一步分析表明,当量化时间减少时,最佳采样密度随之降低。

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  • 学】利MATLAB GUI进行(包括数量和间距)【附带MATLAB源码 12018】.mp4
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