集成电路测试设计面试必备资料.pdf

简介：
本书籍为准备参加集成电路测试设计岗位面试的专业人士提供全面指导和必备知识，涵盖行业最新技术和面试常见问题解答。 集成电路的可测性设计（Design for Testability，简称DFT）是集成电路设计中的一个重要领域。其主要目标在于提升芯片的测试效率，从而降低成本、缩短测试时间并提高质量。 在DFT中，可控性和可观测性是两个基础概念。可控性指的是能够将电路节点设置为特定值的能力；而可观测性则是指可以观察到这些节点状态的能力。一个理想的设计应该能让所有输入端（PIs）控制和输出端（POs）被观测，并且该设计能置于已知的初始状态。 故障模型是DFT中的另一个核心概念，它涵盖了多种类型如固定故障、转换故障、路径延迟故障以及静电流测试等。其中，固定故障用于检测互连线中的开路或短路及桥接；而转换和延迟故障则通常涉及高速应用，并需要两周期的测试来涵盖启动（Launch）与捕获（Capture）。此外，静电流测试测量稳定状态下的静态电源电流以检测晶体管异常。 在DFT中，故障覆盖率和测试覆盖度是两个重要的指标。前者衡量的是通过特定测试方案能够发现多少已知可能发生的故障；后者则表示了电路哪些部分已经被检验过。一个优秀的可测性设计会提高故障覆盖率，从而提升芯片的质量水平。 功能测试与结构化测试作为两种主要的验证方法各有优劣。其中，功能测试旨在确认电路是否满足预期的功能要求；而结构化测试则是通过检查内部组件来确保整个系统的完整性。前者模拟了实际应用中的行为模式，后者则有助于发现潜在的设计缺陷。 综上所述，DFT不仅涉及单一技术的应用，还涵盖了故障模型的分类、特性分析以及功能与结构性验证方法的选择等多个层面的知识点。掌握这些知识对于设计高效可测性集成电路产品至关重要，并且是应聘相关职位的基本要求之一。