
IC测试数据解析.msi
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简介:
IC测试数据解析.msi是一款用于分析集成电路(IC)测试结果的数据解析工具。它帮助工程师快速定位生产过程中的问题,并优化产品质量。
ICTestDataAnalysis 是一个IC测试数据提取整理工具,支持处理STDF V4原始日志、测试机生产txt日志(如TRI、Chroma、Magum2),以及标准Galaxychip格式的数据文件。该工具可以将stdf/txt 日志转换为Galaxychip标准格式的CSV,并进一步将其转换成Excel表格,支持进行测试向量失效统计和首测终测良率统计等功能。
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